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  • QJ 2671-1994
    進口電子元器件質量管理要求


    QJ 2671-1994 中,可能用到以下儀器

     

    德國徠卡 共聚焦顯微鏡 TCS SP8 SMD 單分子檢測平臺

    德國徠卡 共聚焦顯微鏡 TCS SP8 SMD 單分子檢測平臺

    徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

     

    美國 Cascade M150探針臺

    美國 Cascade M150探針臺

    上海納騰儀器有限公司

     

    美國魯道夫J357折光儀

    美國魯道夫J357折光儀

    大昌華嘉科學儀器

     

    美國魯道夫J157折光儀(WR可選)

    美國魯道夫J157折光儀(WR可選)

    大昌華嘉科學儀器

     

    美國魯道夫J 系列折光模塊

    美國魯道夫J 系列折光模塊

    大昌華嘉科學儀器

     

    美國C-Flex 0374 ACDF透明管

    美國C-Flex 0374 ACDF透明管

    北京中科科爾儀器有限公司

     

    美國C-Flex 082 透明管

    美國C-Flex 082 透明管

    北京中科科爾儀器有限公司

     

    QJ 2671-1994



    標準號
    QJ 2671-1994
    發布日期
    1994年04月27日
    實施日期
    1994年08月01日
    廢止日期
    中國標準分類號
    V25
    發布單位
    CN-QJ

    QJ 2671-1994 中可能用到的儀器設備


    誰引用了QJ 2671-1994 更多引用





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