本標準規定了透射電子顯微鏡系列分類技術依據的基本參數。 本標準適用于透射電鏡。
? 透射電子顯微鏡(TEM)是利用高能電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備。透射電子顯微鏡樣品桿有以下3種分類:? 1、氣氛桿:? 氣氛桿能夠突破現有透射電鏡對于真空度要求的限制,在一個完全封閉的氣體系統中,研究透射電鏡內的氣相反應過程,如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應情況。并結合控溫...
大型透射電鏡 大型透射電鏡(conventional TEM)一般采用80-300kV電子束加速電壓,不同型號對應不同的電子束加速電壓,其分辨率與電子束加速電壓相關,可達0.2-0.1nm,高端機型可實現原子級分辨。 低壓透射電鏡 低壓小型透射電鏡(Low-Voltage electron...
1、大型透射電子顯微鏡: 大型透射電鏡(conventional TEM)一般采用80-300kV電子束加速電壓,不同型號對應不同的電子束加速電壓,其分辨率與電子束加速電壓相關,可達0.2-0.1nm,高端機型可實現原子級分辨。 2、低壓透射電子顯微鏡: 低壓小型透射電鏡...
①晶體缺陷分析 廣義的講,一切破壞正常點陣周期的結構均稱為晶體缺陷,如空位、位錯、晶界、析出物等。這些破壞點陣周期性的結構都將導致其所在區域的衍射條件發生變化,使得缺陷所在區域的衍射條件不同于正常區域的衍射條件,從而在熒光屏上顯示出相應明暗程度的差別。 ②組織分析 除了各種缺陷可以產生不同的...
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