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JB/T 5383-1991
透射電子顯微鏡技術條件

Specification for transmission electron microscope

透射電子顯微鏡技術條件 是非強制性國家標準，您可以免費下載前三頁

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JB/T 5383-1991 中，可能用到以下儀器

Themis透射電子顯微鏡

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賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射電鏡

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日本電子株式會社(JEOL)

JEOL JEM-2200FS 200kV能量過濾場發射透射電鏡

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日本電子株式會社(JEOL)

JEOL JEM-2800 200kV高通量場發射透射電子顯微鏡

JEOL JEM-2800 200kV高通量場發射透射電子顯微鏡

日本電子株式會社(JEOL)

JEM-2100Plus 200kV六硼化鑭透射電子顯微鏡

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日本電子株式會社(JEOL)

JEM-1400 Plus 120kV高襯度透射電子顯微鏡

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日本電子株式會社(JEOL)

超小型低電壓臺式透射電子顯微鏡LVEM5

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QUANTUM量子科學儀器貿易（北京）有限公司

LVEM25小型低電壓透射電子顯微鏡

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QUANTUM量子科學儀器貿易（北京）有限公司

嶗應1082B型簡易皮托管

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青島嶗山應用技術研究所

標準號: JB/T 5383-1991
發布日期: 1991年07月10日
實施日期: 1992年07月01日
廢止日期: 無
中國標準分類號: N33
國際標準分類號: 17.180.30
發布單位: CN-JB

適用范圍: 　　本標準規定了透射電子顯微鏡產品分類、技術要求、試驗方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸、貯存等。
本標準適用于加速電壓200kV及其以下的電鏡。

JB/T 5383-1991 中可能用到的儀器設備

透射電鏡TEM 液質聯用儀掃描電鏡SEM 拉曼光譜儀水浴/油浴/恒溫槽凍干機/冷凍干燥機

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