工業CT 層析攝影也叫計算機斷層掃描成像( ComputedTomography,即CT) ,該技術是利用X 射線探測物體的內部,通過測定射線的衰減系數,采用數學方法,經計算機處理,求解出衰減系數值在某剖面上的二維分布矩陣,轉變為圖像畫面上的灰度分布,從而實現建立斷面圖像的成像技術。通過分析斷層面內密度的分布,就可以獲得復合材料內部密度均勻性、微孔隙體積含量與分布等方面的信息。...
X射線強度隨偏離值ΔL的增大而迅速減小(圖89.13)(這就是通常不采用電磁偏轉的方法進行選點分析的根本原因)。如果希望掃描范圍內X射線強度的變化不超過10%,對于用TAP晶體分光的CuKαX射線,ΔL不應超過±20μm。對于用LiF晶體分光的CuKαX射線,ΔL不超過±30μm。為了獲得低倍的均勻的X射線掃描圖像還應采用多次掃描照相法。...
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