更新時間: 2024-05-08 10:37:46
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本文利用超高真空離子束輔助沉積技術在Si(100)基底上設計合成ZrN/TiAlN和CN_x/TiAlN納米多層膜。利用表面輪廓儀和納米力學測試系統研究薄膜的機械性能,包括表面硬度、彈性模量以及薄膜與基底的附著力;還通過X射線衍射(XRD)
分析測試百科網訊 2017年8月10日,第四屆中國分析儀器學術年會分論壇之“分析儀器研發論壇”舉辦。在上午的報告中,主要圍繞質譜相關問題展開。復旦大學教授 丁傳凡 復旦大學教授丁傳凡的報告是“離子阱最新技術進展”。報告人介紹了離子阱質譜當
SEM,EDS,XRD的區別,SEM是掃描電鏡,EDS是掃描電鏡上配搭的一個用于微區分析成分的配件——能譜儀,是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀,是用于物相分析的檢測設備。
XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 “起熒”翡翠的礦物學特征及光學原理研究 賽默飛化學分析業務:中國是賽默飛全球業務第二大市場 成分分析四大家—XRF、ICP、EDS、WDS,來看看你需要哪一個? 成分分析的四大神器—XRF、ICP、EDX和WDX 上海大型企事業單位分析檢測技術與儀器設備交流研討會 SEM,EDS,XRD的區別