日立掃描電鏡SEM參數

日立高新技術公司

• 型號日立高新S-3400N
• 中文簡稱掃描電鏡
• 英文簡稱S-3400N VP-SEM
• 產地日本
• 上市時間2007年5月9日

日立高新技術公司

• 型號日立高新S-3700N
• 中文簡稱掃描電鏡
• 英文簡稱S-3700N Ultra Large VP-SEM
• 產地日本
• 上市時間2011年5月11日

日立高新技術公司

• 型號日立高新S-4800
• 中文簡稱掃描電鏡
• 英文簡稱SEM
• 產地日本
• 上市時間2009年

日立高新技術公司

• 型號SU5000
• 中文簡稱SU5000熱場式場發射掃描電鏡
• 英文簡稱SU5000 thermal field field emission scanning electron microscope
• 產地日本
• 上市時間2014年8月4日

日立高新技術公司

• 型號日立高新SU3500
• 中文簡稱掃描電子顯微鏡
• 英文簡稱SEM
• 產地日本
• 上市時間2012年12月7日

日立高新技術公司

• 型號日立高新SU9000
• 中文簡稱掃描電子顯微鏡
• 英文簡稱Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope SU9000
• 產地日本
• 上市時間2011年6月17日

日立高新技術公司

• 型號日立高新SU6600
• 中文簡稱掃描電鏡
• 英文簡稱SEM
• 產地日本
• 上市時間2011年06月

日立高新技術公司

• 型號日立高新FB2200
• 中文簡稱聚焦離子束系統
• 英文簡稱FB2200 Focused Ion Beam System
• 產地日本
• 上市時間2010年1月5日

日立高新技術公司

• 型號TM3030Plus
• 中文簡稱掃描電鏡
• 英文簡稱SEM
• 產地日本
• 上市時間2014年8月4日

• 加速電壓：5kV/15kV/EDX
• 放大倍數：15 ～ 60,000 × （數碼連續放大： - ×240,000）
• 信號選擇：背散射電子/二次電子/合成
• 樣品可移動范圍：X: 35.0 mm, Y: 35.0 mm
• zei大樣品尺寸：70 mm 直徑

日立高新技術公司

• 型號日立高新TM3030
• 中文簡稱臺式顯微鏡
• 英文簡稱TM3030 Tabletop Microscope
• 產地日本
• 上市時間2010年04月

日立高新技術公司

• 型號日立高新NB5000
• 中文簡稱FIB-SEM系統
• 英文簡稱NB5000 nanoDUE'T FIB-SEM
• 產地日本
• 上市時間2011年5月17日

日立高新技術公司

• 型號日立高新NX9000
• 中文簡稱日立高新NX9000高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統
• 英文簡稱FIB-SEM
• 產地日本
• 上市時間2015年7月30日

日立高新技術公司

• 型號日立高新FlexSEM1000 II
• 中文簡稱日立高新FlexSEM 1000 II鎢燈絲掃描電子顯微鏡
• 英文簡稱FlexSEM 1000 II SEM
• 產地日本
• 上市時間2016年4月15日

日立高新技術公司

• 型號AeroSurf 1500
• 中文簡稱AeroSurf 1500 臺式大氣壓顯微鏡掃描電鏡
• 英文簡稱AeroSurf 1500 Tabletop Atmospheric Scanning Electron Microscope (ASEM)
• 產地日本
• 上市時間2016年3月7日

日立高新技術公司

• 型號日立高新3D-VIEW
• 中文簡稱TM3030/3000專用三維圖像顯示
• 英文簡稱TM3030/3000專用三維圖像顯示
• 產地日本
• 上市時間2014年7月26日

日立高新技術公司

• 型號日立高新SU-1510
• 中文簡稱掃描電鏡
• 英文簡稱SEM
• 產地日本
• 上市時間2012年10月29日

日立高新技術公司

• 型號日立高新Regulus 8100/8240/8230/8220
• 中文簡稱Regulus掃描電鏡
• 英文簡稱Regulus
• 產地日本
• 上市時間2017年5月31日

日立高新技術公司

• 型號AeroSurf1500
• 中文簡稱掃描電鏡
• 英文簡稱SEM
• 產地日本
• 上市時間2016年

• 放大倍數：15~60,000(up to 240,000 with digital
• 加速電壓：5kV/15kV/EDX
• zei大樣品厚度：10mm
• 樣品臺橫移：X：15mm，Y：15mm，Z：5mm
• 檢測器：高靈敏度半導體四分割BSE探測器

日立高新技術公司

• 型號日立高新TM4000/TM4000Plus
• 中文簡稱掃描電鏡
• 英文簡稱SEM
• 產地日本
• 上市時間2017年7月25日

日立高新技術公司

• 型號Regulus8100
• 中文簡稱超高分辨場發射掃描電子顯微鏡Regulus8100
• 英文簡稱Regulus8100
• 產地日本
• 上市時間2017年07月

日立高新技術公司

• 型號TM4000II/TM4000PlusII
• 中文簡稱臺式顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII
• 英文簡稱TM4000II/TM4000PlusII SEM
• 產地日本
• 上市時間2020年03月

日立高新技術公司

• 型號日立高新SU7000
• 中文簡稱超高分辨率肖基特場發射掃描電子顯微鏡
• 英文簡稱Ultra-High-Resolution Schottky Scanning Electron Microscope SU7000
• 產地日本
• 上市時間2018年7月31日

日立高新技術公司

• 型號MirrorCLEM
• 中文簡稱MirrorCLEM光-電聯用顯微鏡法（CLEM）系統
• 英文簡稱MirrorCLEM
• 產地日本
• 上市時間2016年

日立高新技術公司

• 型號Regulus8200
• 中文簡稱日立場發射掃描電子顯微鏡Regulus8200
• 英文簡稱日立場發射掃描電子顯微鏡Regulus8200
• 產地日本
• 上市時間2017年5月31日

日立高新技術公司

• 型號MI4050
• 中文簡稱日立 MI4050高性能聚焦離子束系統
• 英文簡稱MI4050 FIB-SEM system
• 產地日本
• 上市時間2015年

日立高新技術公司

• 型號NX2000
• 中文簡稱日立雙束（三束）聚焦離子束系統NX2000
• 英文簡稱NX2000 FIB-SEM system
• 產地日本
• 上市時間2015年

日立高新技術公司

• 型號SU3900
• 中文簡稱日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900
• 英文簡稱日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900
• 產地日本
• 上市時間2011年

日立高新技術公司

• 型號 SU3800
• 中文簡稱日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800
• 英文簡稱日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800
• 產地日本
• 上市時間2019年4月2日

日立高新技術公司

• 型號Ethos NX5000
• 中文簡稱高性能FIB-SEM系統 Ethos NX5000
• 英文簡稱Ethos NX5000 high performance FIB-SEM system
• 產地日本
• 上市時間2006年

日立高新技術公司

• 型號微型采樣系統
• 中文簡稱聚焦離子束(FIB)微型采樣系統用于STEM分析
• 英文簡稱micro sampling system for FIB used for STEM analysis
• 產地日本
• 上市時間2016年10月16日

日立高新技術公司

• 型號NASFA
• 中文簡稱CAD導航系統 故障分析導航系統 (NASFA)
• 英文簡稱NASFA for CAD navigator
• 產地日本
• 上市時間2015年6月24日

日立高新技術公司

• 型號SU8700
• 中文簡稱 日立肖特基場發射掃描電鏡SU8700
• 英文簡稱SU8700 Schottky field emission scanning electron microscopy
• 產地日本
• 上市時間2018年1月19日

日立高新技術公司

• 型號SU8600
• 中文簡稱日立冷場發射掃描電鏡SU8600
• 英文簡稱SU 8600 Cold field emission scanning electron microscopy
• 產地美國
• 上市時間2019年