日立掃描電鏡SEM參數
發布時間:2025-04-21 18:39
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日立高新技術公司
- SU5000
- SU5000熱場式場發射掃描電鏡
- SU5000 thermal field field emission scanning electron microscope
- 日本
- 2014年8月4日

日立高新技術公司
- TM3030Plus
- 掃描電鏡
- SEM
- 日本
- 2014年8月4日
- 加速電壓:5kV/15kV/EDX
- 放大倍數:15 ~ 60,000 × (數碼連續放大: - ×240,000)
- 信號選擇:背散射電子/二次電子/合成
- 樣品可移動范圍:X: 35.0 mm, Y: 35.0 mm
- zei大樣品尺寸:70 mm 直徑

日立高新技術公司
- AeroSurf 1500
- AeroSurf 1500 臺式大氣壓顯微鏡掃描電鏡
- AeroSurf 1500 Tabletop Atmospheric Scanning Electron Microscope (ASEM)
- 日本
- 2016年3月7日

日立高新技術公司
- AeroSurf1500
- 掃描電鏡
- SEM
- 日本
- 2016年
- 放大倍數:15~60,000(up to 240,000 with digital
- 加速電壓:5kV/15kV/EDX
- zei大樣品厚度:10mm
- 樣品臺橫移:X:15mm,Y:15mm,Z:5mm
- 檢測器:高靈敏度半導體四分割BSE探測器

日立高新技術公司
- 日立高新SU7000
- 超高分辨率肖基特場發射掃描電子顯微鏡
- Ultra-High-Resolution Schottky Scanning Electron Microscope SU7000
- 日本
- 2018年7月31日

日立高新技術公司
- Ethos NX5000
- 高性能FIB-SEM系統 Ethos NX5000
- Ethos NX5000 high performance FIB-SEM system
- 日本
- 2006年

日立高新技術公司
- 微型采樣系統
- 聚焦離子束(FIB)微型采樣系統用于STEM分析
- micro sampling system for FIB used for STEM analysis
- 日本
- 2016年10月16日

日立高新技術公司
- SU8700
- 日立肖特基場發射掃描電鏡SU8700
- SU8700 Schottky field emission scanning electron microscopy
- 日本
- 2018年1月19日
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