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    日立掃描電鏡SEM參數

    發布時間:2025-04-21 18:39

    tel: 400-6699-117 1000
    日立高新S-3400N可變壓力掃描電子顯微鏡

    日立高新技術公司

    • 日立高新S-3400N
    • 掃描電鏡
    • S-3400N VP-SEM
    • 日本
    • 2007年5月9日
      日立高新S-3700N超大樣品倉掃描電子顯微鏡

      日立高新技術公司

      • 日立高新S-3700N
      • 掃描電鏡
      • S-3700N Ultra Large VP-SEM
      • 日本
      • 2011年5月11日
        日立高新S-4800冷場發射掃描電子顯微鏡

        日立高新技術公司

        • 日立高新S-4800
        • 掃描電鏡
        • SEM
        • 日本
        • 2009年
          SU5000熱場式場發射掃描電鏡

          日立高新技術公司

          • SU5000
          • SU5000熱場式場發射掃描電鏡
          • SU5000 thermal field field emission scanning electron microscope
          • 日本
          • 2014年8月4日
            SU3500日立高新掃描電子顯微鏡

            日立高新技術公司

            • 日立高新SU3500
            • 掃描電子顯微鏡
            • SEM
            • 日本
            • 2012年12月7日
              日立高新SU9000超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡

              日立高新技術公司

              • 日立高新SU9000
              • 掃描電子顯微鏡
              • Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope SU9000
              • 日本
              • 2011年6月17日
                日立高新SU6600配有VP功能的新型熱場掃描電鏡

                日立高新技術公司

                • 日立高新SU6600
                • 掃描電鏡
                • SEM
                • 日本
                • 2011年06月
                  日立高新FB2200聚焦離子束系統

                  日立高新技術公司

                  • 日立高新FB2200
                  • 聚焦離子束系統
                  • FB2200 Focused Ion Beam System
                  • 日本
                  • 2010年1月5日
                    TM3030Plus日立高新臺式顯微鏡

                    日立高新技術公司

                    • TM3030Plus
                    • 掃描電鏡
                    • SEM
                    • 日本
                    • 2014年8月4日
                    • 加速電壓:5kV/15kV/EDX
                    • 放大倍數:15 ~ 60,000 × (數碼連續放大: - ×240,000)
                    • 信號選擇:背散射電子/二次電子/合成
                    • 樣品可移動范圍:X: 35.0 mm, Y: 35.0 mm
                    • zei大樣品尺寸:70 mm 直徑
                    TM3030日立高新臺式顯微鏡

                    日立高新技術公司

                    • 日立高新TM3030
                    • 臺式顯微鏡
                    • TM3030 Tabletop Microscope
                    • 日本
                    • 2010年04月
                      日立高新NB5000聚焦離子束&電子束裝置

                      日立高新技術公司

                      • 日立高新NB5000
                      • FIB-SEM系統
                      • NB5000 nanoDUE'T FIB-SEM
                      • 日本
                      • 2011年5月17日
                        高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統 NX9000

                        日立高新技術公司

                        • 日立高新NX9000
                        • 日立高新NX9000高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統
                        • FIB-SEM
                        • 日本
                        • 2015年7月30日
                          日立高新掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II

                          日立高新技術公司

                          • 日立高新FlexSEM1000 II
                          • 日立高新FlexSEM 1000 II鎢燈絲掃描電子顯微鏡
                          • FlexSEM 1000 II SEM
                          • 日本
                          • 2016年4月15日
                            AeroSurf 1500 臺式大氣壓顯微鏡掃描電鏡

                            日立高新技術公司

                            • AeroSurf 1500
                            • AeroSurf 1500 臺式大氣壓顯微鏡掃描電鏡
                            • AeroSurf 1500 Tabletop Atmospheric Scanning Electron Microscope (ASEM)
                            • 日本
                            • 2016年3月7日
                              日立高新TM3030/3000專用三維圖像顯示?計測功能 3D-VIEW

                              日立高新技術公司

                              • 日立高新3D-VIEW
                              • TM3030/3000專用三維圖像顯示
                              • TM3030/3000專用三維圖像顯示
                              • 日本
                              • 2014年7月26日
                                日立高新SU-1510掃描電子顯微鏡

                                日立高新技術公司

                                • 日立高新SU-1510
                                • 掃描電鏡
                                • SEM
                                • 日本
                                • 2012年10月29日
                                  日立高新Regulus系列場發射掃描電子顯微鏡

                                  日立高新技術公司

                                  • 日立高新Regulus 8100/8240/8230/8220
                                  • Regulus掃描電鏡
                                  • Regulus
                                  • 日本
                                  • 2017年5月31日
                                    AeroSurf1500掃描電子顯微鏡

                                    日立高新技術公司

                                    • AeroSurf1500
                                    • 掃描電鏡
                                    • SEM
                                    • 日本
                                    • 2016年
                                    • 放大倍數:15~60,000(up to 240,000 with digital
                                    • 加速電壓:5kV/15kV/EDX
                                    • zei大樣品厚度:10mm
                                    • 樣品臺橫移:X:15mm,Y:15mm,Z:5mm
                                    • 檢測器:高靈敏度半導體四分割BSE探測器
                                    日立高新TM4000/TM4000Plus掃描電鏡

                                    日立高新技術公司

                                    • 日立高新TM4000/TM4000Plus
                                    • 掃描電鏡
                                    • SEM
                                    • 日本
                                    • 2017年7月25日
                                      超高分辨場發射掃描電子顯微鏡Regulus8100

                                      日立高新技術公司

                                      • Regulus8100
                                      • 超高分辨場發射掃描電子顯微鏡Regulus8100
                                      • Regulus8100
                                      • 日本
                                      • 2017年07月
                                        臺式顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII

                                        日立高新技術公司

                                        • TM4000II/TM4000PlusII
                                        • 臺式顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII
                                        • TM4000II/TM4000PlusII SEM
                                        • 日本
                                        • 2020年03月
                                          日立高新SU7000超高分辨率肖基特場發射掃描電子顯微鏡

                                          日立高新技術公司

                                          • 日立高新SU7000
                                          • 超高分辨率肖基特場發射掃描電子顯微鏡
                                          • Ultra-High-Resolution Schottky Scanning Electron Microscope SU7000
                                          • 日本
                                          • 2018年7月31日
                                            MirrorCLEM光-電聯用顯微鏡法(CLEM)系統

                                            日立高新技術公司

                                            • MirrorCLEM
                                            • MirrorCLEM光-電聯用顯微鏡法(CLEM)系統
                                            • MirrorCLEM
                                            • 日本
                                            • 2016年
                                              日立場發射掃描電子顯微鏡Regulus8200

                                              日立高新技術公司

                                              • Regulus8200
                                              • 日立場發射掃描電子顯微鏡Regulus8200
                                              • 日立場發射掃描電子顯微鏡Regulus8200
                                              • 日本
                                              • 2017年5月31日
                                                日立 MI4050高性能聚焦離子束系統FIB-SEM

                                                日立高新技術公司

                                                • MI4050
                                                • 日立 MI4050高性能聚焦離子束系統
                                                • MI4050 FIB-SEM system
                                                • 日本
                                                • 2015年
                                                  日立雙束(三束)聚焦離子束系統NX2000

                                                  日立高新技術公司

                                                  • NX2000
                                                  • 日立雙束(三束)聚焦離子束系統NX2000
                                                  • NX2000 FIB-SEM system
                                                  • 日本
                                                  • 2015年
                                                    日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900

                                                    日立高新技術公司

                                                    • SU3900
                                                    • 日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900
                                                    • 日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡SU3900
                                                    • 日本
                                                    • 2011年
                                                      日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800

                                                      日立高新技術公司

                                                      • SU3800
                                                      • 日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800
                                                      • 日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800
                                                      • 日本
                                                      • 2019年4月2日
                                                        高性能FIB-SEM系統 Ethos NX5000

                                                        日立高新技術公司

                                                        • Ethos NX5000
                                                        • 高性能FIB-SEM系統 Ethos NX5000
                                                        • Ethos NX5000 high performance FIB-SEM system
                                                        • 日本
                                                        • 2006年
                                                          聚焦離子束(FIB)微型采樣系統用于STEM分析

                                                          日立高新技術公司

                                                          • 微型采樣系統
                                                          • 聚焦離子束(FIB)微型采樣系統用于STEM分析
                                                          • micro sampling system for FIB used for STEM analysis
                                                          • 日本
                                                          • 2016年10月16日
                                                            CAD導航系統 故障分析導航系統 (NASFA)

                                                            日立高新技術公司

                                                            • NASFA
                                                            • CAD導航系統 故障分析導航系統 (NASFA)
                                                            • NASFA for CAD navigator
                                                            • 日本
                                                            • 2015年6月24日
                                                               日立肖特基場發射掃描電鏡SU8700

                                                              日立高新技術公司

                                                              • SU8700
                                                              • 日立肖特基場發射掃描電鏡SU8700
                                                              • SU8700 Schottky field emission scanning electron microscopy
                                                              • 日本
                                                              • 2018年1月19日
                                                                日立冷場發射掃描電鏡SU8600

                                                                日立高新技術公司

                                                                • SU8600
                                                                • 日立冷場發射掃描電鏡SU8600
                                                                • SU 8600 Cold field emission scanning electron microscopy
                                                                • 美國
                                                                • 2019年

                                                                  售后服務

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