日本電子透射電鏡TEM參數
發布時間：2024-05-31 10:35
tel: 400-6699-117 轉 6205
日本電子株式會社(JEOL)
- JEM-1400Plus
- 透射電鏡
- TEM
- 日本
- 2013年1月27日
- 點分辨率：0.38nm
- 加速電壓40kV～120kV
- 放大倍數：×200～1,200,000
- 電子槍：冷束電子槍
- 樣品移動范圍：X/Y,2mm;Z,1mm;zei大傾斜角，±70度
日本電子株式會社(JEOL)
- JEM-3100F
- 電鏡
- TEM
- 日本
- 2003年11月30日
- 點分辨率：0.17nm
- 線分辨率：0.1nm
- STEM ：0.14nm
- 束流強度：0.5nA 以上/1nm
- 放大倍數：x60 - x1,500,000
日本電子株式會社(JEOL)
- JEM-2500SE
- 電鏡
- TEM
- 日本
- 2006年11月30日
- STEM分辨率：0.2nm Lattice
- TEM分辨率：0.14nm Lattice
- 加速電壓：80 to 200 kV
- 放大倍數：x100 to 20,000,000
- 單鍵切換TEM/STEM/SEI和衍射模式
日本電子株式會社(JEOL)
- JEM-2100
- 透射電子顯微鏡
- TEM
- 日本
- 2010年7月29日
- 點分辨率：0.19nm
- 線分辨率：0.14nm
- 加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
- 傾斜角：25
- EDS:13
日本電子株式會社(JEOL)
- 日本電子JEM-Z200FSC（CRYO ARM 200）
- 冷凍電鏡
- JEM-Z200FSC（CRYO ARM 200）Field Emission Cryo-Electron Microscope
- 日本
- 2017年4月26日
日本電子株式會社(JEOL)
- JEM-ARM200F NEOARM
- 原子級分辨率透射電子顯微鏡
- Atomic level resolution transmission electron microscope
- 日本
- 2017年5月4日
日本電子株式會社(JEOL)
- JEM-ARM300F2
- JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡
- JEM-ARM300F2 Atomic resolution analytical electron microscope
- 日本
- 2020年2月14日
日本電子株式會社(JEOL)
- 日本電子JEM-ACE200F
- JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡
- JEM-ACE200F high throughput analytical electron microscope
- 日本
- 2018年12月11日
日本電子株式會社(JEOL)
- JEM-Z300FSC（CRYO ARM 300）
- JEOL JEM-Z300FSC TEM
- Field Emission Cryo-Electron Microscope
- 日本
- 2017年6月26日
售后服務
我會維修/培訓/做方法
如果您是一名工程師或者專業維修科學 儀器的服務商，都可參與登記，我們的平臺 會為您的服務精確的定位并展示。