BeamCheck增材制造專用激光分析系統

BeamCheck 集成CCD 光束分析儀直接探測高功率激光的光斑，以及一臺功率計用于實時監測測量激光的功率。特殊的分束系統使其可以直接用于高功率激光，極小部分功率被分配給光束分析儀進行光斑分析，而大部分功率由功率計直接探測激光功率。可在近場或焦點處測量。

BeamCheck增材制造專用激光分析系統主要特點：

? 可以測量工作面的激光焦點尺寸以及功率密度

? 波長范圍：1060-1080nm

? 功率范圍：0.1-600 W

? 可測光斑大小：37μm-3.5mm

? 焦長：200mm- >400mm

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注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途