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    賽默飛電子顯微鏡(原FEI)

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    賽默飛200 kV場發射透射電鏡Talos F200i TEM

    價格:¥1500萬-2000萬
    品牌:賽默飛 產地:捷克 型號:Talos F200i TEM 樣本:來電或留言獲取樣本
    常見問題
    • 賽默飛200kV場發射透射電鏡TalosF200iTEM價格? 可以檢測什么?
    • 賽默飛200kV場發射透射電鏡TalosF200iTEM參數規格? 配套的耗材試劑?
    • 賽默飛200kV場發射透射電鏡TalosF200iTEM操作規程? 使用注意事項?
    參數
    儀器種類:場發射 價格范圍:1500萬-2000萬
    產品簡介

    用于高通量、高分辨率化學表征和動態觀察的 TEM 和 STEM 分析。

    詳細介紹

    賽默飛200 kV場發射透射電鏡Talos F200i TEM 

    • 高質量、高分辨率的 (S)TEM 成像和靈活的 EDS 

    • 可使用高分辨率、高亮度(冷)場發射槍 

    • 可提供雙 EDS,以獲得較高的分析通量


    Talos F200i TEM

    用于高通量、高分辨率化學表征和動態觀察的 TEM 和 STEM 分析。

    Talos F200i 透射電子顯微鏡 

    Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是一款 20-200 kV 場發射(掃描)透射電子顯微鏡,專為各種材料科學樣品和應用要求的性能和生產率而設計。其標準的 X-Twin 極靴間隙在應用中具有較高的靈活性,且與高再現的電子鏡筒相結合時,可用于為高分辨 2D 和 3D 表征、原位動態觀察和衍射應用。

    Talos F200i 透射電子顯微鏡優勢

    Talos F200i  S/TEM 專為多用戶和多學科環境設計,也是初級用戶的理想選擇。其配備在所有 Thermo Scientific TEM 平臺上共享、能夠快速熟悉的 Thermo Scientific Velox 用戶界面。所有 TEM 的日常調整均自動完成,以提供最佳的、可重現性最高的設置。 Align Genie 自動化軟件簡化了新手操作員的學習曲線,降低了多用戶環境中的緊張關系,并提高了經驗豐富的操作員的數據獲取時間。 此外,可在配置中添加側面插入的可伸縮能量色散 X 射線光譜 (EDS) 監測器來進行化學分析。

    緊湊型設計

    Talos F200i 的占地面積和尺寸較小,可適應更具挑戰性的空間。此外,這種緊湊型設計降低了維修時的接觸難度,同時也降低了基礎設施和支持成本。

    所有用戶的生產率

    為進一步提高生產率,尤其是在多用戶多材料環境中,恒定功率物鏡、低滯后設計以及使用 SmartCam 攝像機進行遠程操作可實現直接可重現的模式和高張力切換。Talos F200i  S/TEM 還提供在線學習幫助。將鼠標指針懸停在控制面板上后,只需按 F1 即可快速打開相關信息。

     

    Talos F200i 透射電子顯微鏡功能

    主要特點

    可搭配眾多高分辨率場發射槍 (FEG)

    選擇 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將極佳 (S)/TEM 成像及極佳能量分辨率相結合。 

    可搭配雙 EDS 技術

    從單個 30 mm2 檢測器到用于高通量(或低劑量)分析的雙 100 mm2 檢測器中,選擇最適合您需求的 EDS 檢測器。

    高質量 STEM/TEM 圖像和準確的 EDS

    創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面非常簡單,從而輕松獲得高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中獨特的 EDS 吸收校正功能可實現最準確的定量。

    最全面的原位功能

    添加斷層掃描或原位樣品架。快速攝像機、智能軟件和我們的寬 X-TWIN 物鏡間隙可在盡可能不降低分辨率和分析功能的情況下實現 3D 成像和原位采集。

    提高了生產率

    超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡,可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。

    可重復性最高的數據

    所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的,確保您始終從最佳成像條件開始工作。實驗可重現,使您可以專注于研究,而不是工具。

    高速提供大視野成像

    4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內以高靈敏度和高速進行實時數字縮放。

    緊湊型設計

    更小的占地面積和尺寸有助于在更具挑戰性的空間中使用此工具,同時降低基礎設施和支持成本。


    性能數據

    TEM
    • 線分辨率: ≤0.10 nm

    操作 系統XX 單元
    • 控制器:Windows? 10 

    • 遠程控制:是  

    真空系統
    • 氣鎖抽氣:無油和無振動

    • 冷阱:標準

    • 長時間杜瓦瓶:可選配 - 至少 4 天待機時間(重新補充之間)

    STEM 成像
    • STEM 分辨率: ?

      • ≤0.16 nm (S-FEG/X-FEG) 

      • ≤0.14 nm ,100pA (X-CFEG)

    • 檢測器: HAADF 和/或同軸 Panther BF/DF

    能量色散 X 射線光譜 (EDS)
    • 檢測器尺寸 (Bruker X-flash):30、100 或 雙 100 mm2

    • 可伸縮: 是,電動

    電子能量損失光譜 (EELS)
    •  ≤0.8 eV (S-FEG/X-FEG)

    •  ≤0.3 eV (X-CFEG)

    槍亮度 200 kV
    • 4×108 A /cm2 srad (S-FEG) 

    • 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG) 

    • 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)


    賽默飛200 kV場發射透射電鏡Talos F200i TEM由賽默飛電子顯微鏡(原FEI) 為您提供,如您想了解更多關于賽默飛200 kV場發射透射電鏡Talos F200i TEM報價、參數等信息 ,歡迎來電或留言咨詢。

    注:該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關用途。

    典型用戶
    采購單位 行業 采購時間
    北京交通大學機電學院 大學 2017-06-02
    陜西師范大學物理學與信息技術學院 大學 2017-09-30
    賽默飛電子顯微鏡(原FEI)
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