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  • 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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    江蘇天瑞儀器股份有限公司

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    當前位置: 天瑞儀器 煙氣/大氣重金屬連續監測系統
    品牌:天瑞儀器 型號:EHM-X200 產地:江蘇

    產品說明、技術參數及配置 EHM-X200大氣重金屬在線分析儀是天瑞儀器自主研發的雙功能全自動在線分析儀器,創新地將專利技術——X熒光(XRF)無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與空氣顆粒物自動富集技術完美結合,符合美國EPA IO-3.3標準方法。它不僅可以監測空氣顆粒物質量濃度, 還可以同時對顆粒物中元素成分進行定量分析。該儀器具有zei低10pg/m3量級的檢出限,處于世界先進水平,可廣泛應用于空氣質量監測、污染溯源及源解析、環境評價等領域。 儀器主機 包括顆粒物富集系統、卷膜系統、β射線吸收檢測模塊、X熒光分析系統(大功率X光管、SDD X熒光探測器、多濾光片切換裝置、數字多道分析器、FP算法分析軟件)和控制系統。整套系統除了顆粒物切割器和采樣泵以外,均集成在一個機箱內,運輸安裝方便。

    參考報價:面議
    品牌:天瑞儀器 型號:EHM X100/200 產地:江蘇

    產品說明、技術參數及配置EHM-X100/200??重?屬在線分析儀是天瑞儀器?主研發的雙功能全?動在線分析儀器,創新地將專利技術——X熒光(XRF)?損檢測技術、β射線吸收檢測技術與空?顆粒物?動富集技術完美結合,符...

    參考報價:面議
    品牌:天瑞儀器 型號:EHM-X200 產地:江蘇

    產品說明、技術參數及配置 EHM-X200大氣重金屬在線分析儀是天瑞儀器自主研發的雙功能全自動在線分析儀器,創新地將專利技術——X熒光(XRF)無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與空氣顆粒物自動富集技術完美結合,符合美國EPA IO-3.3標準方法。它不僅可以監測空氣顆粒物質量濃度, 還可以同時對顆粒物中元素成分進行定量分析。該儀器具有zei低10pg/m3量級的檢出限,處于世界先進水平,可廣泛應用于空氣質量監測、污染溯源及源解析、環境評價等領域。 儀器主機 包括顆粒物富集系統、卷膜系統、β射線吸收檢測模塊、X熒光分析系統(大功率X光管、SDD X熒光探測器、多濾光片切換裝置、數字多道分析器、FP算法分析軟件)和控制系統。整套系統除了顆粒物切割器和采樣泵以外,均集成在一個機箱內,運輸安裝方便。

    參考報價:面議
    品牌:天瑞儀器 型號:EHM-X200 產地:江蘇

    產品說明、技術參數及配置 EHM-X200大氣重金屬在線分析儀是天瑞儀器自主研發的雙功能全自動在線分析儀器,創新地將專利技術——X熒光(XRF)無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與空氣顆粒物自動富集技術完美結合,符合美國EPA IO-3.3標準方法。它不僅可以監測空氣顆粒物質量濃度, 還可以同時對顆粒物中元素成分進行定量分析。該儀器具有zei低10pg/m3量級的檢出限,處于世界先進水平,可廣泛應用于空氣質量監測、污染溯源及源解析、環境評價等領域。 儀器主機 包括顆粒物富集系統、卷膜系統、β射線吸收檢測模塊、X熒光分析系統(大功率X光管、SDD X熒光探測器、多濾光片切換裝置、數字多道分析器、FP算法分析軟件)和控制系統。整套系統除了顆粒物切割器和采樣泵以外,均集成在一個機箱內,運輸安裝方便。

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    品牌:天瑞儀器 型號:EHM-X200 產地:江蘇

    產品說明、技術參數及配置 EHM-X200大氣重金屬在線分析儀是天瑞儀器自主研發的雙功能全自動在線分析儀器,創新地將專利技術——X熒光(XRF)無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與空氣顆粒物自動富集技術完美結合,符合美國EPA IO-3.3標準方法。它不僅可以監測空氣顆粒物質量濃度, 還可以同時對顆粒物中元素成分進行定量分析。該儀器具有zei低10pg/m3量級的檢出限,處于世界先進水平,可廣泛應用于空氣質量監測、污染溯源及源解析、環境評價等領域。 儀器主機 包括顆粒物富集系統、卷膜系統、β射線吸收檢測模塊、X熒光分析系統(大功率X光管、SDD X熒光探測器、多濾光片切換裝置、數字多道分析器、FP算法分析軟件)和控制系統。整套系統除了顆粒物切割器和采樣泵以外,均集成在一個機箱內,運輸安裝方便。

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    品牌:天瑞儀器 型號:EHM-X200 產地:江蘇

    產品說明、技術參數及配置 EHM-X200大氣重金屬在線分析儀是天瑞儀器自主研發的雙功能全自動在線分析儀器,創新地將專利技術——X熒光(XRF)無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與空氣顆粒物自動富集技術完美結合,符合美國EPA IO-3.3標準方法。它不僅可以監測空氣顆粒物質量濃度, 還可以同時對顆粒物中元素成分進行定量分析。該儀器具有zei低10pg/m3量級的檢出限,處于世界先進水平,可廣泛應用于空氣質量監測、污染溯源及源解析、環境評價等領域。 儀器主機 包括顆粒物富集系統、卷膜系統、β射線吸收檢測模塊、X熒光分析系統(大功率X光管、SDD X熒光探測器、多濾光片切換裝置、數字多道分析器、FP算法分析軟件)和控制系統。整套系統除了顆粒物切割器和采樣泵以外,均集成在一個機箱內,運輸安裝方便。

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