在掃描電子顯微鏡 (SEM) 上連接inLux? SEM-拉曼聯用接口，便可實現同時執行SEM成像和拉曼成像。充分利用inLux接口獲取化學和結構信息，不僅有助于深入了解樣品，而且可幫助解決科研和材料科學難題。

創新型inLux SEM-拉曼聯用接口，可在您的掃描電子顯微鏡 (SEM) 樣品室中集成高性能的拉曼分析能力。在執行SEM成像的同時，您還可以采集拉曼光譜并生成2D和3D圖像。在SEM成像模式和拉曼數據采集模式之間切換時，樣品將保持固定不動，因此在比較拉曼圖像和SEM圖像時，您可以確信精確的共點定位。

inLux接口提供各種拉曼分析功能。您可以從單點或多點采集光譜，也可以生成2D和3D共焦拉曼圖像。inLux接口的配置齊全，標配支持所有這些操作，用戶能夠分析樣品上體積超過0.5 mm x 0.5 mm x 0.5 mm的區域。它完全由光柵進行位置控制，精度達到50 nm，可確保生成精確的拉曼圖像。

主要優點：

①信息詳實?— 在執行SEM成像的同時，共點執行拉曼、光致發光 (PL) 和陰極熒光 (CL) 光譜分析。

②通用?— inLux接口可以安裝在不同制造商的各種SEM機型上，可適應各種尺寸的樣品室，而且無需對SEM進行任何修改。

③無損?— inLux的探頭只需單擊就能完全縮回。這樣可確保探頭在不使用時不會干擾SEM的其他功能或工作流程。

④測定分布?— 標配共焦拉曼成像功能，可輕松測量分布不均勻的樣品。

⑤觀察樣品?— 具有大面積光學成像和拼圖功能，方便用戶直觀地觀察樣品并定位所關注的區域。

⑥配置多樣?— 支持多達兩種不同的激光激發波長，另有一個可選的CL模塊。

⑦自動化?— 只需一鍵切換激光波長，便可對復雜樣品進行拉曼分析。

連接多款雷尼紹拉曼系統：

inLux接口可與雷尼紹的研究級拉曼光譜儀和軟件配合使用。它不僅具有全面的數據處理和分析能力，而且直觀易用。從工業污染鑒別到學術研究，inLux接口有助于充分發揮SEM的性能。