X熒光的基本概念知識

　分析化學  儀器分析

　X射線是和可見光線一樣也是電磁波的一種，不同的是它的波長較之可見光為短，在100?到0.1?之間。同時，與一般的電磁波相比，X射線能夠比較容易的穿透物質，其穿透強度是隨包含在物質里的原子的原子序號變小而增加。熒光X射線分析是利用X射線照射在物質上時，發生的固有的X射線(熒光X射線)的方法而設計的。熒光X射線照射在物質上，構成的物質其原子的內核電子受到X射線的轟擊，能量增加，于是內層電子向外層遷移，同時外層電子向內層遷移，由于外層電子所具能量高，在向內層遷移時，便放出能量，此剩余的能量以電磁場的形式放出，既為熒光X射線。圖1為熒光 X射線的發生的示意圖。由于熒光X射線是元素所固有的能量，依據Moslay法則可對熒光X射線的能量做定性分析，同時，利用熒光

　　X射線強度(光子數)則可做定量分析。

　　熒光X射線分析也可以說是X射線領域里的分光光譜分析。與測定液體樣品的原子吸收光譜和發光光譜分析近乎相同的性能。比如，原子吸收光譜(FLAAS)，是在2000℃～3000℃的火焰下把樣品原子化，發光光譜分析(ICP-AES)是利用6000～9000℃的等離子火焰進行激發。熒光X射線分析的手法基本與上述兩者一樣，是利用X射線激發樣品中的元素從而得到需要的信息。

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