高分辨透射電子顯微鏡

儀器介紹：
   Tecnai G2 F30是一臺真正具有多功能、多用戶環境的300kV儀器。它以其可將各種透射電鏡技術(包括TEM、EFTEM、Lorentz透鏡、STEM、EDX/EELS頻譜成像等)方便靈活地有機組合、形成強大的分析功能，而在同類型儀器中獨占鰲頭。任務導向型用戶界面和自動采集數據功能，使用戶從必須首先成為電鏡專家才能獲得理想結果的壓力中解放出來，使他們專注于自己的研究工作。Tecnai G2的“完全一體化”概念允許在不同的操作模式和數據采集技術之間快速切換，切換過程中系統自動調回所有相關的操作設置。
   Tecnai G2 F30使具有各種分析要求的和不同應用水平的操作者都可以在上面工作。同時，其TEM/STEM系統可以隨時升級、更新功能，以保證方便快速地進行更先進的數據采集。
   除了具有200kV的各種優點外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰性的樣品。Tecnai G2 F30使用戶可以在原子尺度的分辨率進行高質量、高穩定性的TEM、STEM和納米分析。

技術參數：    

    1.信息分辨率極限：0.14nm
    2.點分辨率：0.20nm
    3.線分辨率：0.10nm
    4.高分辨STEM分辨率：0.17nm
    5.樣品最大傾角：±40度

    1.高性能的透射電子成像、掃描透射成像和納米、原子尺度分析
    2.所有的先進分析技術集成于一體: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、電子衍射、EFTEM和EDS
    3.強樣品穿透能力
    4.最佳性能的能譜分析
    5.超穩定的聚焦、高壓、能量色散、束斑、對中和樣品臺
    6.多用戶環境下的方便和安全操作
    7.適用于大量樣品的快捷分析
    8.將來技術, 今日應用
    9.基于Windows XP的用戶界面

     主要用于無機材料的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析，及各種材料微區化學成分的定性和定量檢測。廣泛應用于生物學、醫學、化學、物理學、地質學、金屬、半導體、高分子、陶瓷、納米材料等。

朝暉校區圖書館東一樓 聯系電話： 0571-88871097 

 　　高分辨透射電子顯微鏡（HRTEM）測試須知

1、TEM測試預約登記

2、TEM測試須同時填寫“TEM制樣”和“TEM透射電鏡”兩份樣品分析單（若自行制樣，則只需填寫后者），并打印、簽字確認以后進行預約

3、中心將按照登記預約的時間順序進行排隊，并將提前半個工作日通知送樣人

4、在“TEM制樣”單上需注明材料種類（塊狀樣品需同時注明“是否有透光性”，以及“是否有測試面（是否能雙面減薄）”）；在“TEM透射電鏡”單的備注欄中需注明測試種類（TEM、HR-TEM、EDX、SAED、STEM、STEM-EDX等----詳見附錄）、聯系電話和e-mail（TEM測試結果將發到該e-mail郵箱中）

5、不在TEM測試范圍內的樣品種類：聚合物、高分子等光敏感性材料及具有磁性、放射性、毒性、揮發性的物質

6、需自行制樣的樣品：不導電樣品（需噴碳處理）、顆粒度>2μm且無法研細的樣品（需包埋處理）

7、中心提供的制樣服務：

8、中心將對測試完的樣品作定期處理，若有需要請自行取走保存

9、有關TEM測試結果之分析，中心提供指導，用戶自行處理

　　附錄：

　　TEM：Transmission Electronic Microscope

　　普通透射（形貌觀察）

　　HR-TEM：High Resolution-Transmission Electronic Microscope

　　高分辨透射（形貌觀察）

　　EDX：Energy Dispersion X-ray Spectrum

　　X射線能譜（元素分析）

　　SAED：Selected Area Electronic Diffraction

　　選區電子衍射（晶體結構分析）

　　STEM：Scanning Transmission Electronic Microscope

　　掃描透射（形貌觀察）

　　STEM-EDX：

　　掃描-能譜，該能譜分析可包括點掃描、線掃描和面掃描