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  • 紅外顯微鏡測定電路板不良焊點

    上一篇 / 下一篇  2009-09-20 15:38:47/ 個人分類:光譜

    • 文件版本: V1.0
    • 開發商: 來源網絡
    • 文件來源: 本地
    • 界面語言: 簡體中文
    • 授權方式: 免費
    • 運行平臺: Win9X/Win2000/WinXP
    現代化的電路板(PCB)裝配使用自動化的焊接工藝,焊接過程中會產生不良焊錫點,本文介紹通過紅外顯微鏡法分析造成不良焊錫的原因。通常波峰焊接工藝如下:將元件插入相應的元件孔中 → 預涂助焊劑 → 預烘(溫度90-100oC) → 波峰焊(220-240oC) → 切除多余插件腳 → 檢查。通過紅外顯微鏡測定了不良焊點處異物的紅外光譜圖,由此確認該異物的化合物類型。



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    TAG: pcb島津顯微紅外

     

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    • 建立時間: 2009-09-20
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