電感耦合等離子體質譜分析技術講座

ICP-MS分析技術講座

1、發展歷史

2、元素的同位素與天然豐度

3、ICP離子源的典型工作參數、

4、溶液中分析物被ICP離子化的歷程

5、氣動霧化器

6、氣動霧化器堵塞時的處理方法

7、典型的等離子體炬管結構與工作原理

8、等離子體炬管和離子提取接口

9、采樣錐與撇樣錐

10、ICP-MS儀器上所用的典型離子透鏡系統

11、ICP離子源（文字說明）

12、ICP樣品離子提取系統（文字說明）

13、四極桿ICP-MS的典型離子透鏡系統

14、四極桿ICP-MS的典型四極桿質量分析器系統

15、四極桿ICP-MS的分辨率與靈敏度

16、離子檢測器

17、ICP-MS的數據采集

18、四極桿ICP-MS的數據采集方式

19、四極桿ICP-MS的典型總體結構

20、ICP-MS的氧化物干擾和雙原子離子干擾

21、ICP-MS的多原子離子干擾

22、ICP-MS的同量異位素重疊干擾

23、ICP-MS的基體效應

24、ICP-MS測量中的物理效應

25、ICP-MS的穩定性

26、ICP-MS同位素豐度比值的分辨率

27、ICP-MS測量的校準

28、半定量分析

29、定量分析——外標法

30、定量分析——內標校正法

31、定量分析——標準加入法

32、同位素稀釋ICP-MS測量——同位素稀釋質譜法的基本原理

33、同位素稀釋ICP-MS測量——同位素稀釋分析的步驟

34、同位素稀釋ICP-MS測量——同位素稀釋法的優缺點