比表面測試儀測含微孔物質的表征

德·博爾（De Boer）等人通過實驗證明，當以吸附量與固體比表面積的比率對相對壓力作圖時，大量無孔固體的氮吸附等溫線能夠近似地用單一的曲線（t～P/P0）來表 示，這種曲線稱為共同曲線（或t曲線）。共同曲線對于大量的物質都是適用的，這些物質主要是氧化物，如SiO2，Al2O3，ZrO2，MgO和 TiO2，BaSO4，有時許多活性炭也被歸于這一類。人們通常把這類具有共同曲線的物質叫做t物質，并且已經計算出了這些物質上N2在不同相對壓力下的 吸附層厚值。
假比表面儀吸附的氮單分子層厚度為0.354nm，吸附氮的統計層數為V/Vm，固體吸附劑上氮吸附層的統計厚度由下式給出：
t,nm = 0.354·V/Vm = f(P/P0) （V—總吸附量；Vm—單層分子飽和吸附量）
它僅僅是相對壓力P/P0的函數，與孔壁的曲率無關，因而與吸附劑本身無關，對于同時存在中孔和微孔的多孔體可以給出有價值的信息。
詳見：麥克默瑞提克比表面測試儀