比表面儀測吸附回線

比表面儀圓柱孔吸附和脫附情況分析中,吸附時,兩曲率半徑不等：r1=rk，r2=∝, rk=rp-t, 脫附時兩曲率半徑相等：r1=r2=rk，將它們代入凱爾文方程后，可得： ln(P/P0)d = -2γ
所以，（P/P0）2a=（P/P0）d

因此，對于給定的一定吸附量或吸附體積V,吸附的相對壓力（P/P0）a必然大于脫附的相對壓力（P/P0）d(或者說，在一定相對壓力下，其脫附支對應 的吸附量總大于吸附支對應的吸附量)。對完整的吸附和脫附過程來說，即發生吸附支與脫附支在中壓區分離，而在低壓和高壓區閉合成環的現象，稱為吸附回線或 滯后環。
不僅是圓柱孔，其它孔形的毛細孔同樣也出現吸附回線的情況。
各種固體的孔形結構錯綜各異，它們的吸附回線自不相同，但經德·博爾研究比較之后，認為不會超出下列A、B、C、D、E五類典型回線（圖5）。人們在研究 催化材料孔結構時，參照這五類典型回線分析實驗吸附回線，對于認識所研究的材料孔結構特征，合理選擇孔分布計算的模型，可以提供有益的啟示。
詳見：麥克默瑞提克比表面儀