X射線熒光分析儀的優缺點

　　什么是X射線熒光分析？

　　(1)X射線是一種電磁波，波長比紫外線還要短，為0.001- 10nm左右。X射線照射到 物質上面以后，從物質上主要可以觀測到以下三種X射線。熒光X射線、散射X射線、透過X射線，SIINT產品使用的是通過對第一種熒光X射線的測定，從物質中獲取元素信息(成 分和膜厚)的熒光X射線法原理。物質受到X射線的照射時，發生元素所固有的X射線(固 有X射線或者特征X射線)。熒光X射線裝置就是通過對該X射線的檢測而獲取元素信息。

　　(2)原理：高能粒子(電子或連續X射線等)與靶材料碰撞時，將靶原子內層電子(如K，L，M等層)逐出成為光電子，原子便出現一個空穴，此時原子處于激發態，隨即較外層電子立即躍遷到能量較低的內層空軌道上，填補空穴位。若此時以X射線的形式輻射多余能量，便是特征X射線。當K層電子被逐出后，所有外層電子都可能跳回到K層空穴便形成K系特征X射線。由L，M，N…層躍遷到K層的X光分別為Kα，Kβ，Kγ…輻射。同樣地，逐出L或M層電子后將有相應的L系或M系特征X射線：Lα，Lβ…;Mα，Mβ…。Kα，Kβ輻射的波長λ是特征的，它取決于K，L，M電子能層的能量： 可以看出，不同元素由于原子結構不同，各電子層的能量不同，所以它們的特征X射線波長也就各不相同。通常人們將X光管所產生的X射線稱為初級X射線。以初級X射線為激發光源照射試樣，激發態試樣所釋放的能量不為原子內部吸收而以輻射形式發出次級X射線，這便是X射線熒光由于各種元素發射具有特定波長(或能量)的標識X射線,可利用鋰漂移、硅半導體等不同探測器及能譜分析儀來確定元素的種類。而標識譜線強度可用來確定元素含量。

　　X射線熒光分析儀的優缺點？

　　X射線熒光分析儀的優點：

　　(1)采樣方式靈敏，如SII SEA系列配有較大檢測室 ，多數試樣可直接進行檢測。可以減少取樣帶來的損耗，對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。

　　(2)測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。

　　(3)分析速度較快。

　　(4)對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。

　　(5)不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。

　　X射線熒光分析儀的缺點：

　　(1) 關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會出現誤差。

　　(2)不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據，不能區分元素價態。

　　(3)對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進行標準曲線繪制，分析結果的精確性是建立在標樣化學分析的基礎上。

　　(4)標準曲線模型需求不時更新，在儀器發生變化或標準樣品發生變化時，標準曲線模型也要變化。