殼聚糖富集分離原子熒光光譜法測定環境水樣中無機錫

摘　要: 研究了殼聚糖對無機錫的富集洗脫行為,并對富集的機理進行了探討。提出了殼聚糖富集分離氫化物發生2原子熒光光譜法測定環境水樣中無機錫的方法。研究了富集分離的最佳條件,在p H 4 時,殼聚糖對Sn ( Ⅱ) 和Sn ( Ⅳ) 的富集率分別為96 %和99 %以上,用1 %～30 %(體積分數) 的硫酸即可定量洗脫,同時考察了共存元素的影響,方法的檢出限為4. 5 ng ·L - 1 ,回收率在93 %以上,相對標準偏差為4. 5 %。