粉末壓片法波長色散X射線熒光光譜分析鐵礦石樣品的礦物效應校正初探

摘　要　利用10 個國內鐵礦石標樣, 對粉末壓片法波長色散X 射線熒光光譜分析鐵礦石樣品中主、次量元素時的礦物效應校正進行了初步探討。文章采用兩種方法試圖降低由于礦物效應帶來的影響。第一種方法(角度校正法) 是在測量每個樣品前(包括校正標樣以及未知樣) , 對每個待測元素的2θ角度進行實際測量,以校正可能存在的角度偏移; 第二種方法(峰面積法) 是用峰面積代替峰強度, 以校正由于峰形變化所帶來的影響。最后用回歸分析后的K 因子進行比較。結果表明, 兩種方法對礦物效應進行校正都可以不同程度地改善鐵礦石中主要元素的校正曲線, 尤其是S 的校正曲線改善明顯。如果在角度校正法或峰面積法的基礎上再用基體校正系數, 除總Fe 外, 其他組分均可以滿足分析要求, 但總Fe 仍需要采取其他措施。