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  • 用于高光譜表面檢測的變差函數分析方法

    上一篇 / 下一篇  2008-12-05 19:20:14/ 個人分類:光譜分析

    • 文件版本: V1.0
    • 開發商: 本站原創
    • 文件來源: 本地
    • 界面語言: 簡體中文
    • 授權方式: 免費
    • 運行平臺: Win9X/Win2000/WinXP
    摘要:利用高光譜數據光譜分辨率高,充分反映物質表面信息的優點,以及其具有的區域化變量的特點,嘗試建立一種對物質表面均勻度,成分分布進行快速檢測的模型。它在變差函數能描述區域化變量的空間結構性基礎上,以球狀模型對試驗變差函數進行擬和,擬和所得基臺值對空間分布、均勻度等都有一定程度的反映。同時在此基礎上給出具體算法流程,結合焊盤均勻度檢測對算法參數選取進行具體說明。



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    TAG: 高光譜區域化變量變差函數擬和

     

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