原子力顯微鏡仍有巨大的發展潛力

上一篇 / 下一篇 2008-10-10 17:43:52/ 個人分類：現代儀器

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《現代儀器》2008年03期

原子力顯微鏡仍有巨大的發展潛力
汪正范;潘甦民;周如久
　　<正>10年來,以掃描探針顯微技術(SPM)為代表的各種表面分析技術,尤其是原子力顯微技術(AFM),在計量學及表面表征領域已成為科學家
【作者單位】：中國分析測試協會北京100045
【分類號】：TH742
【DOI】：CNKI:SUN:XDYI.0.2008-03-031
【正文快照】：
　　10年來,以掃描探針顯微技術(SPM)為代表的各種表面分析技術,尤其是原子力顯微技術(AFM),在計量學及表面表征領域已成為科學家所利用的常規工具之一。在這10年中,原子力顯微鏡每年銷售額的增長超過1億美元。20世紀90年代末,生命科學分析儀器市場空前繁榮,涉及SPM領域的公司在此

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