DEIP中微量雜質的GC/MS分析

《分析試驗室》2008年S1期    
 
  DEIP中微量雜質的GC/MS分析
  周波;畢榮山;孟柱;張偉
  　　研究了間苯二甲酸二乙酯(DEIP)中微量雜質的化學成分,用減壓精餾的方法對樣品進行分離濃縮,用氣相色譜-質譜法(GC/MS)進行分析,結合生產工藝,譜庫檢索及人工解譜進行鑒定,鑒定出DEIP中主要11種雜質,用歸一化法進行定量,建立了用GC/MS方法檢測DEIP中微量雜質的方法。
【作者單位】：青島銀科恒遠化工過程信息技術有限公司 青島266042(周波);青島科技大學計算機化工研究所 青島266042(畢榮山);甘肅蘭州銀光聚銀集團 白銀730900(孟柱;張偉)
【關鍵詞】：間苯二甲酸二乙酯;氣相色譜-質譜;減壓精餾;定性
【分類號】：O657.63
【DOI】：CNKI:SUN:FXSY.0.2008-S1-082
【正文快照】：
　　甲苯二異氰酸酯(TDI)是以間苯二甲酸二乙酯(DEIP)為溶劑甲苯二胺(TDA)與光氣反應形成[1,2],在生產過程中溶劑DEIP需要循環使用,因為副反應、分離等原因會生成多種副產物留在DEIP中影響正常生產[3],為了優化工藝減少副產物,需要對DEIP中的雜質進行定性分析。DEIP中的雜質含量很