X射線熒光儀器分析誤差的來源

　　X射線熒光儀器分析誤差的來源

　　X射線光譜分析儀的好壞常常是以X射線強度測量的理論統計誤差來表示的，BX系列波長色散X射線熒光儀的穩定性和再現性，已足以保證待測樣品分析測量的精度，被分析樣品的制樣技術成為影響分析準確度的至關重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫將會反映在分析結果的質量上。X射線熒光儀器分析誤差的來源主要有以下幾個方面：

　　1. 采樣誤差：

　　非均質材料

　　樣品的代表性

　　2. 樣品的制備：

　　制樣技術的穩定性

　　產生均勻樣品的技術

　　3. 不適當的標樣：

　　待測樣品是否在標樣的組成范圍內

　　標樣元素測定值的準確度

　　標樣與樣品的穩定性

　　4. 儀器誤差：

　　計數的統計誤差

　　樣品的位置

　　靈敏度和漂移

　　重現性

　　5. 不適當的定量數學模型：

　　不正確的算法

　　元素間的干擾效應未經校正