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    SGS金屬鍍層測試服務

    上一篇 / 下一篇  2016-11-17 14:10:41/ 個人分類:測試方法

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    SGS金屬鍍層測試服

    關鍵詞:鍍層厚度 鍍層成分分析  樣品表面污點分析 庫倫法 金相法 渦流法  X射線熒光法 電子探針  能譜分析儀  異物分析

    SGS針對鍍層方面提供全面的檢測服務

    鍍層厚度測試方法主要是庫倫法,金相法,渦流測量法和X射線熒光法

    庫倫法

    測量范圍:0-35um誤差為±10%

    精度:0.01um

    適用范圍:可測量一層鍍層金屬厚度、多層鍍層金屬厚度、多層鎳厚度和電位差、合金鍍、塑料上各種電鍍金屬,表面光滑,最少有3mm2的平坦測試面

    常用測試標準:ASTM B764-04(2009)ASTM B504-90(2011)GB/T 4955-2005ISO 2177-2003

    金相法

    測量范圍:1-100um

    精度:0.1um

    適用范圍:對樣品尺寸沒有太大的要求

    常用測試標準:GB/T 6462-2005ASTM B487-1985(R2013)ISO 1463-2003EN ISO 1463-2004

    JIS H8501-1999AS 2331.1.1-2001

    渦流測量法

    測量范圍:0.5-200um

    精度:0.1um

    適用范圍:可測量樣品涂、鍍層的厚度,樣品要求表面平整,測試面相當平,誤差就小

    常用測試標準:GB/T 4957-2003ASTM D7091-13                                   

    X射線熒光XRF

    精度:0.01um

    適用范圍:屬于無損測量,對樣品沒太大要求

    常用測試標準:GB/T 16921-2005ISO 3497-2000DIN EN ISO 3497-2001ASTM B568-1998(R2014)

    ASTM A754-2011JIS H8501-1999

    鍍層成分分析和樣品表面污點分析

    設備名稱:電子探針和光電子能譜儀聯用分析

    測量精度:0.001%

    適用范圍:金屬及其非金屬表面涂、鍍層的成分分析,表面污點、異物分析

    采用精密分析設備電子探針,對各層成分金相分析,取樣方式為切面法,對各層金相高倍放大進行點和面的分析,最薄的覆蓋層厚度可以到0.1um,優點是其分析精度高,采樣直接有代表性。

    光電子能譜儀儀和電子探針聯合運用,還可以對樣品表面的點分析和面分析,對比分析可以知道材料表面污染造成的原因。

     

    SGS提供上述測試標準的檢測服務,詳情請咨詢SGS:

    聯系人:張先生

    電話:+86-592-5762376/+86 138 0604 1987

     傳真:+86-592 576 5380

    E-Mail: Caden.Zhang@sgs.com

    地址:中國·福建省廈門市火炬(翔安)產業園翔虹路31

     


    實驗室儀器

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    TAG: 異物分析電子探針金相法鍍層厚度庫倫法渦流法能譜分析儀

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