【課件】X射線光電子能譜分析方法及原理(XPS)

　　主要內容：

　　?XPS 的發展

　　?基本概念

　　?XPS 的工作流程及原理

　　?XPS譜線中伴峰的來源

　　?XPS譜圖中伴峰的鑒別

　　?利用XPS譜圖鑒別物質

　　?XPS的實驗方法

　　?XPS譜圖的解釋步驟

　　?XPS 的特點

　　XPS 的發展：

　　?XPS理論首先是由瑞典皇家科學院院士、烏普薩拉大學物理研究所所長 K·Siebahn 教授創立的。

　　原名為化學分析電子能譜:

　　ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。

　　?1954年研制成世界上第一臺雙聚焦磁場式光電子能譜儀。

　　?XPS是一種對固體表面進行定性、定量分析和結構鑒定的實用性很強的表面分析方法。

　　?現今世界上關于XPS的刊物主要有：

　　Journal of Electron Spectroscopy.

　　Related Phenomena.