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    • 二次離子質譜分析（SIMS）講義

    上一篇 / 下一篇  2010-10-16 11:22:24/ 個人分類：二次離子質譜資料

    查看( 370 ) / 評論( 10 ) / 評分( 31 / 0 )
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    　　二次離子質譜

    　　(Secondary Ion Mass Spectrometry 簡稱 SIMS)

    　　一、簡介

    　　二、離子與表面的相互作用

    　　三、濺射的基本規律

    　　四、二次離子發射的基本規律

    　　五、二次離子質譜分析技術

    　　六、二次離子分析方法

    　　七、二次離子質譜的研究新方向

    　　八、總結

    　　SIMS的主要特點：

    　　1. 具有很高的檢測極限

    　　對雜質檢測限通常為ppm，甚至達ppb量級

    　　2. 能分析化合物，得到其分子量及分子

    　　結構的信息

    　　3. 能檢測包括氫在內的所有元素及同位素

    　　4. 獲取樣品表層信息

    　　5. 能進行微區成分的成象及深度剖面分析




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    引用 刪除 王朝英   /   2013-01-10 19:58:48
    評 5 分
    引用 刪除 xiewenbo   /   2012-11-06 09:18:32
    多謝樓主了
    引用 刪除 xiewenbo   /   2012-11-06 09:18:12
    評 5 分
    引用 刪除 zraindream   /   2012-08-04 14:26:53
    謝謝了
    引用 刪除 zraindream   /   2012-08-04 14:26:37
    評 5 分
    引用 刪除 zhouhx4713   /   2011-11-11 23:33:01
    評 5 分
    hitmse 引用 刪除 hitmse   /   2011-04-06 17:03:54
    評 1 分
    hitmse 引用 刪除 hitmse   /   2011-04-06 17:03:51
    謝謝分享
    butterfly007 引用 刪除 butterfly007   /   2010-10-19 17:07:02
    評 5 分
    hongjingzi 引用 刪除 hongjingzi   /   2010-10-18 15:56:47
    評 5 分
     

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