薄膜材料泊松比測試

本專題涉及薄膜材料泊松比測試的標準有12條。

國際標準分類中，薄膜材料泊松比測試涉及到半導體分立器件、電子電信設備用機電元件。

在中國標準分類中，薄膜材料泊松比測試涉及到。

瑞典標準研究所，關于薄膜材料泊松比測試的標準

• SS-EN 62047-21:2014 半導體器件 微機電器件 第21部分:薄膜MEMS材料泊松比測試方法

歐洲電工標準化委員會，關于薄膜材料泊松比測試的標準

• EN 62047-21:2014 半導體器件微機電器件第21部分：薄膜MEMS材料泊松比測試方法

意大利電工委員會，關于薄膜材料泊松比測試的標準

• CEI EN 62047-21:2016 半導體器件 微機電器件 第21部分：薄膜MEMS材料泊松比測試方法

德國標準化學會，關于薄膜材料泊松比測試的標準

• DIN EN 62047-21 E:2012-11 半導體器件-微機電器件-第21部分：薄膜MEMS材料泊松比測試方法（草案）
• DIN EN 62047-21:2015 半導體器件-微機電器件-第21部分：薄膜MEMS材料泊松比測試方法（IEC 62047-21:2014）；德文版 EN 62047-21:2014
• DIN EN 62047-21:2015-04 半導體器件-微機電器件-第21部分：薄膜MEMS材料泊松比的測試方法（IEC 62047-21:2014）
• DIN EN 62047-21 E:2012 半導體器件 微機電器件 第21部分：薄膜 MEMS 材料泊松比的測試方法 (IEC 47F/127/CD:2012) 草案

西班牙標準化協會，關于薄膜材料泊松比測試的標準

• UNE-EN 62047-21:2014 半導體器件 微機電器件 第21部分：薄膜 MEMS 材料泊松比的測試方法

巴林國家計量局，關于薄膜材料泊松比測試的標準

• BH GSO IEC 62047-21:2022 半導體器件 微機電器件 第21部分：薄膜MEMS材料泊松比的測試方法

法國標準化協會，關于薄膜材料泊松比測試的標準

• NF EN 62047-21:2014 半導體器件 微機電器件 第21部分：薄膜MEMS材料泊松比的測試方法

丹麥標準化協會，關于薄膜材料泊松比測試的標準

• DANSK DS/EN 62047-21:2014 半導體器件 微機電器件 第21部分：薄膜MEMS材料泊松比的測試方法

海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于薄膜材料泊松比測試的標準

• GSO IEC 62047-21:2021 半導體器件 微機電器件 第21部分：薄膜MEMS材料泊松比的測試方法

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