| inVia顯微拉曼光譜儀 |
| InVia顯微拉曼光譜儀一經推出便成為世界上最受歡迎的科研拉曼系統。InVia具有公認的高性能和極強的靈活性，以及操作的簡易性。 |
| AFM-拉曼系統 |
| AFM-拉曼聯用儀器通過分析材料的化學結構，進一步深化了對亞微米尺度材料的分析研究。 |
| SEM-拉曼系統 |
| 將SEM和拉曼光譜結合在一起，實現了無需在不同儀器之間移動樣品，就可對同一點樣品的形貌、元素、化學成分等進行分析。 |
聯系方式
| 雷尼紹(上海)貿易有限公司 |
| 網址：www.renishaw.com.cn |
| 郵箱：china@renishaw.com |
| 微博：拉曼微博@雷尼紹-拉曼事業 |
inVia部分用戶名單
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六大創新
| 2、儀器精度和重復性比市場同類光譜儀提高了一個數量級，所有馬達帶動的機械傳動部件均采用光柵尺自動反饋控制。 |
| 3、可一次連續掃描大范圍的光譜(專利)，無需接譜，無需使用低分辨率光柵。 |
| 4、受專利保護的最新的顯微共焦設計系統，可連續調節共焦深度，并大大提高了儀器的光通量和穩定性。 |
| 5、受專利保護的拉曼或熒光信號整體一次直接成像，迅速獲得材料的空間分布。 |
| 6、與多種掃描探針顯微鏡（SPM）聯用，如AFM、SNOM、CLSM等，可同時獲取微區原位的形貌、結構和化學的信息。 |
技術特點
| 高通光效率— 獨立光路、透射式設計 |
| 高靈敏度— 微量/弱信號樣品測試 |
| 高光譜分辨率— 多檔次可選 |
| 高雜散光抑制水平— 低頻弱信號 |
| 高重復性和穩定性—反映結構細微變化 |
| 高空間分辨率— 微米甚至納米尺寸 |
| 光譜連續掃描— 寬光譜范圍拉曼/發光 |
| 高度自動化— 自動調節、維護方便 |