總懸浮顆粒物的測定
總懸浮顆粒物（total suspended particulate matter，TSP）可分為一次顆粒物和二次顆粒物。一次顆粒物是由天然污染源和人為污染源釋放到大氣中直接造成污染的物質，如風揚起的灰塵、燃燒和工業煙塵；二次顆粒物則是通過某些大氣化學過程所產生的微粒，如二氧化硫轉化生成硫酸鹽。具有切割特性的采樣器，以恒速抽取定量體積的空氣，空氣中懸浮顆粒物被截留在已恒重的濾膜上。根據采樣前、后濾膜質量之差及采樣體積，計算總懸浮顆粒物的濃度，其計算公式為:
式中W——截留在濾膜上的懸浮顆粒物總質量，mg；
t——累計采樣時間，min；
QN一采樣器平均抽氣流量，m3/min；
K——常數，大流量采樣器K=1×106，中流量采樣器K=1×109
該方法適用于大流量或中流量總懸浮顆粒物采樣器（簡稱采樣器）進行空氣中總懸浮顆粒物的測定，但不適用于總懸浮顆粒物含量過高或霧天采樣使濾膜阻力大于10kPa時情況該方法的檢測下限為0.001mg/m3。當對濾膜經選擇性預處理后，可進行相關組分分析。
當兩臺總懸浮顆粒物采樣器安放位置相距不大于4m、不少于2m時，同樣采樣測定總懸浮顆粒物的含量，相對偏差不大于15％。
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