高分子領域常用的表征方法之電子顯微鏡（SEM）
電子顯微鏡是一種電子光學微觀分析儀器，是將聚焦到很細的電子束打到試樣上待測定的一個微小區域，產生不同的信息，加以收集、整理和分析，得出材料的微觀形貌、結構和化學成分等有用的信息，如透射電鏡（TEM）、掃描電鏡（SEM）和電子探針分析（EPA）等。電子顯微鏡在分析研究高聚物時有以下應用：
a.電鏡可觀察非晶態高聚物微觀形態，其存在大小為3～10nm的“球粒結構”和局部有序區域；
b.用電鏡可以觀察到聚合物的各種結晶形態，如折疊鏈晶片、串晶、伸直鏈晶等
c.研究纖維和織物的織構及其缺陷特征，同時還用于研究纖維的斷裂特征，從而進一步弄清楚各種纖維的斷裂機理等；
d.電鏡廣泛用于各種聚合物及其共混物的結構，以及它們斷口形態特征與其力學行為關系等；
e.此外，電鏡還廣泛用于復合材料的各種故障結構分析，以及研究高聚物材料作為涂層、膠黏劑、薄膜時，形成高聚物膜的結構及其黏結狀態。
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