沃特世Xevo TQ-XS質譜儀亮相第34屆中國質譜學會學術年會
分析測試百科網訊 2016年9月11日，時值第34屆中國質譜學會學術年會暨全國會員代表大會召開之際，沃特世召開全新Xevo? TQ-XS 質譜儀中國發布活動，該款Xevo TQ-XS質譜儀在今年5月份，于美國召開的美國質譜年會（ASMS）上推出。沃特世公司質譜產品市場總監舒放向與會者介紹了這款全新產品，近百名質譜領域專家到場參加。
沃特世全新Xevo TQ-XS質譜儀發布現場
沃特世公司質譜產品市場總監 舒放
StepWave XS?離軸離子傳輸技術能夠通過特定的真空泵將未電離的中性化合物抽掉，通過電場的作用將選定的離子傳輸至檢測器，使靈敏度得以顯著提高。即使數千次進樣也能保持優異的穩定性，能夠輕松定量棘手的痕量化合物，對非常不穩定化合物的分析也不會受到影響。
全新一代UniSpray?離子源，提高靈敏度的同時擴大了分析范圍。可以同時獲得ESI、APCI和APPI的譜圖，并且顯著提高靈敏度。
配合APGC氣相色譜接口，Xevo TQ XS成為目前業界靈敏度最高，分析化合物范圍最寬的質譜定量分析系統。
Xevo TQ XS 指標
采集速度：500 MRM/s
掃描速度：20,000 Da/s
正負離子模式切換：15 ms
質量范圍：2-2048 m/z
ScanWave PICs功能
舒放表示：“對于沃特世來說，一個很重要的任務是，要在儀器上開發盡可能多的功能，使用起來盡可能的簡單。使用戶能夠很方便的實現從樣品到答案的分析過程。”
第34屆中國質譜學會學術年會沃特世展臺
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