日本理學推出新款EDXRF元素分析儀
分析測試百科網訊 日本理學在Pittcon 2016展會上推出日本理學 NEX DE VS 直接激發 EDXRF 元素分析儀。
NEX DE VS 分析儀是日本理學 NEX DE 系列直接激發 EDXRF 元素分析儀的全新補充產品。NEX DE 系列的每臺儀器都配備了60 kV、12瓦的X射線管和一個高通量的硅漂移檢測器。該檢測器支持的計數率大于500K cps，能夠達到低的檢測下限。
該儀器可用于要求嚴苛的應用，或者對分析時間和樣品通量要求嚴格的情形，廣泛適用于探索、研究、RoHS篩查、教學以及工業和生產監控。
該 NEX DE VS 分析儀非常適用于小型現場分析應用。它具有一個高分辨率攝像頭，搭配自動準直器允許對樣品進行精確定位，進行1mm、3mm、和10mm光斑尺寸的分析。這些特點搭配日本理學的 QuantEZ 分析軟件，可在同一臺儀器中同時進行散點分析和小光斑分析。
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