X射線能譜儀的能譜分析中出現的假峰是什么情況？
分析某些元素時可能會出現和峰，和峰的出現會造成和峰附近的背底變形，如果與其他峰出現重疊，計算結果時即使扣除背底也不能得到滿意的結果。此時，需要改變采譜條件，減少計數率，減小和峰對背底的影響，避免和峰的出現。計數率可通過改變束流、更換光闌、調節探測器與樣品間的距離等措施來調節。
逃逸峰是探測器在檢測過程中產生的，出現在入射峰左邊1.734keV處。一般來說，只有原子序數在15~28時才有可能出現逃逸峰。
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