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    HORIBA最新型號電位測定儀SZ-100登場!

    2010.4.27

      SZ-100 是 HORIBA Scientific 最新推出的納米粒子解析裝置,可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子,并能完全解析納米粒子的物質結構。該儀器被廣泛應用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和 CMP 等的檢測。

      最新推出的納米粒子解析裝置 SZ-100 有以下諸多性能:

      ◎將解析納米尺寸重要的三要素(粒子直徑、Zeta 電位、分子量測定)的測定囊括于一身。

      ◎從 PPM 級的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品,都能夠在保持原液狀態下進行測量。

      ◎微小容量電泳樣品池是 HORIBA Scientific 獨自研發,可以測定取樣調查僅100μL的 Zeta 電位。

      ◎適合膠質粒子、機能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應用。

      ◎操作簡單,進樣、設定參數后,只要按開始按鈕即可得到測量結果。

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