Vion IMS QTof為常規分析帶來離子淌度優勢和更大分離功率
這是一個臺式串聯質譜儀，分析實驗室的離子淌度的清晰度、準確性和生產力將上升到新的水平
2015年5月27日–沃特世公司（紐約證券交易所代碼：WAT）今天推出了VionWaters? Vion IMS Q-Tof質譜儀，為常規分析提供了清晰和準確的結果。
離子淌度技術能夠消除質譜干擾，針對每個離子生成碰撞截面(CCS)特征值，幫助研究人員獲取相比于傳統液質聯用技術更加豐富的信息。沃特世計劃于今年下 半年開始發售這款Vion IMS QTof質譜儀。? IMS Q-Tof?質譜儀在美國質譜學會第六十三屆年會上展出，將高分辨率串聯質譜儀與離子淌度分離技術的優勢完美結合在一套臺式儀器中，“這款Vion IMS QTof儀器的設計匯聚了我們在離子淌度技術方面積累的十多年專業經驗。對于需要進行樣品篩查、代謝物鑒定或各種經典組學分析的科研人員而言，借助這款儀 器，他們在單次分析中檢測和鑒定所有樣品分析物的能力將上升到一個更高的水平，“沃特世質譜儀產品管理部門總監Gary Harland博士說道，”無論樣品中有多少種分析物，又或者不論這些分析物的濃度是多少，Vion IMS QTof都能夠幫助各種實驗室更好地應對分析挑戰，實現他們的科研和業務目標。“
常規分析中需要應對的樣品日益復雜，因此科研人員對高 分辨率質譜的依賴程度也隨之增加。但是，僅僅提高質譜分辨率有時也無法完全解決問題。離子淌度技術可根據離子的形狀、質量數和電荷對其進行分離，從而提供 額外的分離維度。離子淌度的選擇性可實現譜圖的優化，幫助儀器從色譜共洗脫化合物和背景干擾物中區分出樣品離子，使獲得的每張譜圖都更加清晰，實現化合物 的準確鑒定。
在一個LC-MS實驗中每一個離子通過Vion IMS Q-Tof, CCS能夠進行自動測量，其結果是常規而有效的。現在的科學家有了更高的能力而更加自信的去鑒定待測物并克服日常挑戰，例如通過復雜矩陣和不同色譜條件的使用來改變保留時間。
Vion IMS Q-Tof的優勢在于Waters的前進波離子淌度、XS離子光學和新的2代QuanT?技術。2代QuanT?技術為離子淌度的常規提供動態范圍，使得它能夠在日常定量/定性應用中使用。Vion IMS Q-Tof是由行業領先的UNIFI?科技信息系統支持，這為儀器控制、數據處理和報告提供了一個平臺。流線型的工作流程提高了生產力并有利于用戶做出更快、更明智的決策。
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