《中國藥典》關于0461 X射線熒光光譜法標準草案的公示
關于0461 X射線熒光光譜法標準草案的公示
我委擬修訂《中國藥典》0461 X射線熒光光譜法。為確保標準的科學性、合理性和適用性，現將擬修訂的0461 X射線熒光光譜法公示征求社會各界意見（詳見附件）。公示期自發布之日起三個月。請認真研核，若有異議，請及時在線反饋，并附相關說明、實驗數據和聯系方式。來函需打印后加蓋公章，個人來函需打印后本人簽名，并郵寄至我委通訊地址。
公示期滿未回復意見即視為對公示標準草案無異議。
聯系人：徐昕怡、朱冉
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附件 0461 X 射線熒光光譜法修訂草案公示稿（第一次）
0461 X 射線熒光光譜法
X 射線熒光光譜法（XRF）是一種基于測量由初級 X 射線激發的原子內層電子產生特征次級 X 射線以確定樣品中元素種類和含量的分析方法。XRF可用于液體、粉末及固體材料的定性、定量分析。XRF 儀可分為波長色散型（WD）和能量色散型（ED）。波長色散型 X 射線熒光分析儀功率大，熒光強度高，測量時間短，具有較高的測量精度，但需要對被測量樣品進行簡單處理，適用于原料、制劑的精確檢測和質量控制；能量色散型 X 射線熒光分析儀雖然測量精度稍差，但無需對樣品作特別復雜的處理而直接進行測量，對樣品也沒有任何損壞，因此可直接用于生產過程控制。
當 X 射線照射到供試品時，供試品中的各元素被激發而輻射出各自的熒光 X 射線。通過準直器經分光晶體分光，按照布拉格定律產生衍射，使不同波長的熒光 X射線按照波長順序排列成光譜，不同波長的譜線由探測器在不同的衍射角上接收。根據測得譜線的波長識別元素種類；根據元素特征譜線的強度與元素含量間的關系，計算獲得供試品中每種元素含量百分數，即為 X 射線熒光光譜分析法。
1．對儀器一般要求
X 射線熒光光譜儀主要由光源（X 射線管）、分光系統和檢測器等組件構成。
（1）光源
兩種類型的 X 射線熒光光譜儀都需要用 X 射線管作為激發光源。作為 X 射線熒光光譜儀的光源，要求有足夠的強度、連續的光譜、穩定的光強。
（2） 分光系統?
波長色散型 X 射線熒光光譜儀的分光系統的主要部件是晶體分光器，它的作用 是通過晶體衍射現象把不同波長的 X 射線分開。能量色散型 X 射線熒光光譜儀是利用熒光 X 射線具有不同能量的特點，將其分開并檢測，不必使用分光晶體。
（3）檢測器?
檢測器的作用是將 X 射線熒光光量子轉變成一定形狀和數量的電脈沖，用于表征 X 射線熒光的能量和強度。常用探測器種類有：正比計數器（流氣式或封閉式）、閃爍計數器、半導體計數器等。
2. 供試品的制備
液體供試品可以直接進樣分析，固體供試品可以直接壓片或與適當的輔劑混合處理后壓片進樣分析。供試品的粒度、樣品量、制樣壓力等因素對測試結果有一定的影響，定量分析時，對于化學藥品一般建議樣品粉碎過 200 目篩，中藥材及復方制劑一般全部過 100 目篩，混合均勻，挑選合適的樣品架制樣，樣品量及制樣壓力的確認應經過預實驗確定。
3. 儀器的校正和檢定
儀器使用前應使用國家標準物質或其他可溯源的標準物質校正。
4. 分析線?
X 射線熒光光譜法中一般應選擇強度大、干擾少、背景低的特征譜線作為分析線。
5．定性分析?
根據每種元素特征 X 射線熒光譜線可對供試品中所含元素種類進行定性分析。
6. 定量測定法
（1）標準曲線法
液體樣品采用元素不同濃度的對照品或者采用元素分級稀釋法制備不同濃度的對照品供檢測分析用，固體樣品采用不同含量的對照品或者采用標準加入法制備不同含量的對照品供檢測分析用。對照品應與供試品的化學組成和物理性質等方面一致。分別測定系列對照品的 X 射線強度，以待測元素的濃度（含量）為橫坐標，以X 射線強度為縱坐標，建立標準曲線。標準曲線應在測定前或定期進行校準。
（2）內標法
將相同量的內標元素分別加入到待測元素已知并且元素濃度（含量）呈梯度的一組樣品中制成系列對照樣品。在選定的分析條件下分別測量對照品中待測元素與內標元素的 X 射線強度，計算待測元素與內標元素的 X 射線強度比，以該強度比為縱坐標，待測元素濃度（含量）為橫坐標建立標準曲線。內標元素的選擇應遵循以下原則：①不能對待測元素產生譜圖干擾；②不受待測樣品基體元素的干擾；③不受待測元素干擾；④質量數盡量與待測元素接近。在待測樣品中也加入相同量的同一種內標元素，制成供試品，同法測量并求得X 射線強度比，由標準曲線獲得待測元素的濃度（含量）。
（3）標準加入法
取相同質量供試品（或相同體積供試品溶液）6 份，除第一份外，在其他幾份中，分別精密加入不同量的待測元素對照品（或對照品溶液），制成系列待測樣品；在選定的分析條件下分別測定，以待測元素 X 射線強度為縱坐標，待測元素加入量為橫坐標，繪制標準曲線，將標準曲線延長交于橫坐標，由交點與原點的距離求算供試品中待測元素的濃度（含量）。此法要求待測元素的濃度（含量）與 X 射線強度呈線性關系。
（4）數學校正法
數學校正法中的經驗系數法、經驗系數與基本參數聯用法等，用于各種不同分析對象時，可有效地計算和校正由于基體的吸收和增強效應對分析結果的影響，對于譜線干擾和計數死時間，也可以得到有效的校正。經驗系數法是用已知標樣，測出共存元素之間的影響系數，代入含量或強度公式，校正共存元素對分析元素的影響。基本參數法是基于樣品中每個元素的含量對應于其分析線的相對強度，全部相對強度的總和，對應其百分含量的總和。根據該原理，由測得的分析線強度和一些表示熒光強度的基本參數（初級 X 射線光譜的分布、吸收系數、熒光效率、吸收限等）便可求出樣品中分析元素的含量。經驗系數與基本參數相結合法（XFP），是利用基本參數法，計算出標樣的理論強度，把標樣中的元素當作純元素求出其相對強度，用經驗系數法對標樣回歸求出影響系數，然后利用求出的影響系數和標樣，即可對試樣定量測定。?
7. 方法學驗證與確認?
XRF方法驗證的目的是證明測量方法適用于其預期目的，XRF分析方法的驗證過程要求對線性、范圍、準確度、專屬性、精密度、定量限和耐用性進行測試。
（1）準確度?
對于藥物或藥物制劑的主要成分（類型 I）的定量測定或雜質含量或限度（類型 II）測試，分析人員可以通過使用適當的已知元素濃度的基體進行回收率實驗來確定其準確性。也可以使用合適的有證標準物質作為檢測標準進行比對。另一個可接受的做法是使用驗證的XRF方法與已建立的分析方法的分析結果進行比較。當分析人員使用標準加入法時，準確度的評估是基于最終的截距濃度，而不是從單個標準加入量計算的回收率。可接受范圍：化學藥物和藥物制劑含量的回收率為98.0%~102.0%，中藥復方制劑含量的回收率為 90.0%~110.0%，雜質分析回收率70.00%~150.0%。
（2）重復性
在規定范圍內，分析人員應通過測量同一濃度（相當于 100%濃度水平）的供試品的 6 個測定結果進行評價。或者可以設計 3 種不同濃度，每種濃度分別制備 3份供試品溶液進行測定，用 9 份樣品的測定結果進行評價。這三個濃度應該足夠接近，以便在濃度范圍內的重復性是恒定的。在這種情況下，三種濃度的可重復性合并與驗收標準相比較。可接受范圍：藥物含量測定的相對標準偏差不超過 1.0%，藥物制劑含量測定不超過 2.0%，中藥復方制劑含量測定的相對標準偏差不超過10.0%，雜質分析的相對標準偏差不超過 20.0%。
（3）中間精密度?
分析人員應確定隨機事件對該方法的分析精度的影響。典型的變量包括在不同的時間進行分析，使用不同的設備，或者有兩個或更多的分析人員使用這個方法。至少有兩個以上這些因素的組合，共 6 個實驗來進行中間精密度的評估。一般而言，原料藥檢測的相對標準偏差不超過 1.0%，藥物制劑檢測的相對標準偏差不超過3.0%，中藥復方制劑檢測的相對標準偏差不超過 10.0%，雜質分析檢測的相對標準偏差不超過 25.0%。
（4）專屬性
方法必須明確地測定每個組份中可能存在的分析元素，包括相應的基質成份在內。
（5）定量限
定量限（LOQ）可以通過計算一個空白不少于 6 次重復測量的標準偏差乘以 10 來進行估算，也可以使用其他合適的方法來評估。
在代表性樣品中加入適量的標準物質，使待測元素的濃度與 LOQ 濃度相似， 進行檢測，以確定準確度。要求分析方法應在標準規定的 50%的水平能精密、準確地對供試品進行分析。
（6）線性
分析人員應該在分析物濃度和校正的XRF響應之間建立線性關系，在濃度范圍內制備不少于 5 個濃度的標準樣品，覆蓋供試品的預期濃度。標準曲線應使用適當的統計方法進行評估，如最小二乘回歸法。回歸直線的相關系數 R、截距 y 和斜率必須確定。對于沒有分析物濃度和XRF響應之間的線性關系的實驗，必須采用適當的統計方法來描述分析響應。要求對類型 I 含量測定的 R 不低于 0.995，類型 II 定量測定的 R 不低于 0.99。
（7）范圍
范圍系指分析方法能達到一定精密度、準確度和線性要求時的高低限濃度或量的區間。以 100.0%為中心的可接受范圍為 80.00%~120.0%。以非中心驗收標準為在規格的下限 10.0%到超過規格上限的 10.0%。含量均勻度可接受范圍為 70.0~130.0%。對于類型 II，可接受范圍為 50.0%~120.0%。
（8）耐用性
分析測量的可靠性應通過對實驗參數的有意調整來證明。對于 XRF，包括在指定的存儲條件下測量供試品的穩定性。驗收標準為在試驗參數變化后，標準或樣品響應的測量，與已確定參數測量結果的偏差不超過 2.0%（藥物制劑檢測）和不超過 20.0%（雜質分析）。
（9）確認?
XRF 方法確認的目的是證明采用的方法能夠以合適的準確度、靈敏度和精密度執行。如果方法確認不成功，則該方法可能不適用于正在測試的項目，需要開發和驗證備選方法。
0461 X 射線熒光光譜法修訂說明
2020年版《中國藥典》首次收載了 X射線熒光光譜法。為使該標準進一步與國際標準接軌，此次借鑒國內外相關標準和研究成果，并根據我國實際情況進行修訂。修訂的主要內容包括對前言、供試品的制備、定量測定法相關內容的補充完善，以及增訂方法學驗證與確認中準確度、重復性、中間精密度、專屬性、定量限、線性、范圍、耐用性、確認相關的內容。
紅色字體為刪除內容，藍色字體為增訂內容
附件 ?0461 X射線熒光光譜法修訂草案公示稿（第一次） (1).pdf
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