馬爾文在Pittcon 2014上推出新型納米顆粒跟蹤分析系統
在Pittcon 2014展會上，馬爾文儀器展出一款全新產品，是工業界和學術界的綜合分析解決方案——Nano Sight納米顆粒跟蹤分析(NTA)系統。Pittcon 2014是馬爾文儀器自2013年9月收購納米科技公司Nano Sight后第一次在美國參展，為納米顆粒跟蹤分析系統增設納米顆粒大小和計數功能。
Nano Sight納米顆粒跟蹤分析(NTA)系統將在Pittcon 2014展會上展出，馬爾文儀器展臺號1648
NTA系統將與納米激光粒度儀和全新Viscotek SEC-MALS 20多角度光散射GPC/SEC檢測器檢測器共同展出。另外在馬爾文展位上，Mastersizer 3000超高速智能粒度分析儀將采用全新軟件。它能模仿其他激光衍射系統操作方式，而使得測量數據的任何可見差異得到合理解釋，因此儀器的升級將變得不再復雜。現場分析能證實測量中的穩定性，并配有自定義報告能輕松滿足行業和公司標準。Mastersizer軟件現能提供8種語言，滿足世界各地的用戶完全無礙使用。
馬爾文的專家也將舉辦一系列Pittcon 短期活動，包括：3月1日周六舉辦樣品粒度分析、3月5日周三舉辦高級凝膠滲透色譜法測定、納米材料粒度表征，3月6日周四舉辦基礎粒度分析重點光散射技術。
推薦
-
企業風采
-
企業風采
-
企業風采
-
焦點事件
-
技術原理
