“獨”得之見，優尼康攜“明星”亮相BCEIA展會
分析測試百科網訊 在第十九屆北京分析測試學術報告會暨展覽會上，優尼康科技有限公司（以下簡稱“優尼康”）展出了一系列具有代表性的膜厚儀、光學輪廓儀等產品。分析測試百科網作為大會支持媒體，全程跟蹤報道。
優尼康現場展臺
優尼康成立于2012年，一直潛心專注于薄膜厚度與表面輪廓測量領域，為半導體、面板等高科技企業和科研院校提供精密測試設備。十年磨一劍，過去的十年里優尼康一直在薄膜測量領域不斷探索，在本次展會上，優尼康團隊展出了膜厚儀、臺階儀、光學輪廓儀等幾款“明星”產品。這些產品應用領域廣泛，在用戶中擁有較高的重復采購率，在市場中充分考慮到了實際應用需求，腳踏實地的沉穩風格使得優尼康在同類廠商中脫穎而出。以下是代表型產品F20系列膜厚儀、F50系列膜厚儀與Profilm3D光學輪廓儀。
F20系列膜厚儀
Filmetrics F20 膜厚儀與配套PC測量系統
F20膜厚儀（全稱：薄膜厚度測量儀）作為最通用的臺式測厚儀器，已被廣泛開發出上千種用途。它可以單點測量樣品的厚度、折射率、反射率和穿透率，更支持測量多層膜、氣態膜、液態膜等。配套軟件可在幾分鐘內完成安裝，并且在幾秒內得出測試結果。主要應用于測量光刻膠厚度、鍍鉻玻璃PR膠厚度、手機背殼硬化層厚度、PET及柔性材料光學膜、載玻片上有機涂層厚度、PC或玻璃上涂層厚度等。
F50系列膜厚儀
Filmetrics F50 膜厚儀
F50膜厚儀相比于F20系列依靠先進的測量系統，可以更簡單快速地獲取更大直徑樣品薄膜厚度分布圖。樣品最大直徑可達到450毫米。F50采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速定位所需測試的點并迅速測試厚度，每秒能測試近兩個點。用戶可以自己利用配套系統繪制自己需要的點位地圖。同時F50系統也配置了高精度、使用壽命長的移動平臺，確保能夠達到上萬次測量。其主要可應用于測量液晶面板PI膜、金剛石厚度、鈮酸鋰厚度、硅上多晶硅、光學鏡片反射率測試等。
Profilm3D光學輪廓儀
Profilm 3D光學輪廓儀
Profilm3D光學輪廓儀（全稱：白光干涉光學輪廓儀）采用白光共聚焦、白光干涉原理，使用最新建的垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術，實現了次納米級非接觸式的表面形貌測量。不僅能測量樣品形貌尺寸（深度，寬度等）、臺階高度、粗糙度（兼容IS0 25178），更是在z軸測量精度達到了0.1nm。其主要應用于樣品粗糙度測量；三維形貌表證；臺階高度測量等。
近年來，隨著半導體科技和膜技術的蓬勃發展，表面測量的需求與要求也逐漸提高。這些產品更是滲透到我們生活的方方面面。從眼睛表面的鍍膜，到衣服皮包表面的涂層；從手機里處于穩定環境中的芯片，到新能源汽車里處于不穩定環境中的控制系統，都與半導體科技和膜技術有著千絲萬縷的聯系。優尼康多年專注探索這一領域，同時，也將矛頭對準新型材料。據悉，為彌補國內缺少對新型材料的標準，優尼康目前正在與國家計量院合作，為降低新型材料測量門檻做出自己的貢獻。
今后，優尼康表示在薄膜厚度與表面輪廓測量領域有一份更樸實的展望：以更上乘的服務與測量技術，幫助更多行業內的工作者，與大家共同成長、共同進步、共同發展。
優尼康工程師給參展觀眾做膜厚儀現場演示
