X射線衍射儀角度校準的光學新方法
目前X射線衍射儀(XRD)的角度檢定和校準測試主要依據JJG
629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規程》和JB/T
9400—2010《X射線衍射儀技術條件》等技術文件,具體方法是采用光學經緯儀或多面棱體等進行測試,該測量方法實際應用中存在一定難度,其次測量間隔較大,不能很好反映真實的角度誤差規律.為此,提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運動的特點,組合采用光電自準直儀和小角度激光干涉儀等儀器,設計了一種新的XRD的角度校準方法,它能夠自動快速地連續測量角度,取k=2時,擴展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠精確得到θ和2θ軸的誤差數據,可用于修正XRD測角誤差,提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統等其他需要角度校準的情況. 更多還原
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