珍珠珠層厚度無損檢測研究有重大突破

　　從廣西質量技術監督局獲悉，2009年3月15日，該局承擔的“X射線和近紅外光珍珠珠層厚度無損檢測儀研究與應用”科技成果項目鑒定驗收會在廣西產品質量監督檢驗院召開。此次項目驗收鑒定會由廣西科技廳組織，全國有關方面的權威專家對項目進行了審定。

　　據了解，該課題技術在珍珠檢測領域具有較高的創新性。 一是國內首創微焦斑(Φ=8μm)X射線透射技術和CCD光電成像技術相結合，實時整體成像;二是珠層圖像自動甄別采集，根據灰度級差原理，自動由外向內搜索(圖像由白到黑)之最大梯度處視為珍珠核與珍珠層邊緣;三是用測量誤差理論最小二乘法圓度擬合，自動獲取最接近珠核與珠層平均圓，實現準確和快速自動檢測;四是用計算機技術實現尺寸自動匹配，以消除點光源引起不同尺寸珍珠的投影與其真正直徑測量偏差的問題;五是研究出儀器的校準標準，建立量傳溯源體系，確保測量準確度;六是實現珍珠球體多截面測量;七是控制測量誤差，實現儀器測量準確度≤0.02mm。

　　參會專家一致認為：該課題在全國率先開展采用X射線和近紅外光學相干層析成像技術對珍珠進行無損檢測綜合對比研究，并取得突破性進展，成功研制出兩種珍珠無損檢測高精度新儀器，把先進的測量理論成功轉化為具有廣泛應用意義的技術創新成果和測量儀器，屬于國內首創，技術水平達到國內領先，國際先進水平。

　　目前該項目所研究的兩種無損檢測方法已被納入國家技術標準在全國推廣應用。對提高珍珠產品質量，促進廣西珍珠產業的發展將具有深遠的社會效益和經濟效益。