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安捷倫科技（中國）有限公司
一款具備優異性能的多功能型成像及分析的掃描電鏡，唯一一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM。
適用于對樣品進行大體積連續切片以及多能量反卷積三維重構的SEM掃描電鏡
是帶有 FEG 源的臺式 SEM，可讓每個人都能獲得清晰、高亮度的圖像，以及 FEG 源的優點。由于其直觀、緊湊的設計，從初始安裝到實際使用都非常方便。
利用亞納米分辨率和高材料對比度進行納米材料表征和分析。
真正的實時定量元素分析；低真空模式具有和高真空模式相同的分辨力，荷電樣品輕松應對；標配二次電子、電動伸縮背散射電子和能譜探頭；標配全彩導航相機和紅外CCD相機
Quanta x50系列掃描電子顯微鏡是FEI公司最新一代的、真正的多用途掃描電鏡，是著名的Quanta產品家族的第三代產品。
