CAMTEK 自動光學檢驗AOI設備 在 碳化硅(SiC) 領域的應用

CAMTEK  自動光學檢驗AOI設備 在 碳化硅(SiC) 領域的應用

碳化硅碳化硅晶片是未來一代半導體材料,具有獨特的電學性能和優異的熱性能。 與硅片和砷化鎵晶片相比,碳化硅晶片更適合高溫和高功率設備應用程序。
Camtek開發專用的檢驗和計量解決方案,以及分析工具來解決這一新興市場。

功能

?處理透明材料區域使用黑暗查克在晶片上
?背光查克的早期階段的過程
?朋友處理透明的晶片
?eef——邊緣控制能力
?自動缺陷分類(ADC)基于收益管理的深度學習
?弓測量
?預測收益率-晶圓缺陷位置精度< 2um

技術

?sts -表面形貌傳感器
?背光

產品

EagleT-AP

為先進的包裝設計市場,EagleT-AP提供了2 d和3 d檢驗和計量在同一平臺上,同時保持極高的性能和吞吐量水平。

EagleT-i

設計的速度和準確性,Camtek EagleT-i是一個zui快的和zui精確的2 d檢查工具在市場上。

咨詢：182 6326 2536（微信同號）

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注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途