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    超高分辨散射式近場光學顯微鏡
    超高分辨散射式近場光學顯微鏡
    品牌：Neaspec 型號：neaSNOM 產地：德國

    neaSNOM是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了專利化的散射式核心設計技術，極大的提高了光學分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內，提供優于10nm空間分辨率的光譜和近場光學圖像。

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    太赫茲近場光學顯微鏡
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    品牌：Neaspec 型號：THz-NeaSNOM 產地：德國

    太赫茲（THz）光源波長較大，一般在300微米左右。由于衍射極限的存在，THz遠場測量系統的光學空間分辨率一般被限制在150微米左右。該THz光遠場測量結果的準確度經常無法滿足對材料科學研究，尤其是需要納米分辨率的微細尺度材料分布研究（例如半導體芯片中各個組成：源極，漏極，柵極）的實驗。THz-NeaSNOM近場光學顯微鏡的出現為此難題提供了一個很好的解決方案。

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    neaSCOPE納米光譜與成像系統
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    品牌：Neaspec 型號：neaSCOPE 產地：德國

    neaSCOPE納米光譜與成像系統neaSCOPE是德國neaspec公司推出的全新一代散射式近場光學顯微鏡（簡稱s-SNOM），加載了全新技術，拓展了產品功能，以滿足客戶多樣的實驗需求。基于化的散射式核心設計技術，neaSCOPE大地...

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    納米空間分辨超快光譜和成像系統
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    品牌：Neaspec 型號：Neaspec 產地：德國

    Neaspec公司利用十數年在近場及納米紅外領域的技術積累，開發出了全新的納米空間分辨超快光譜和成像系統，其pump激發光可兼容可見到近紅外的多組激光器，probe探測光可選紅外（650-2200 cm-1）或太赫茲（0.5-2 T）波段，實現了在超高空間分辨（20 nm）和超高時間分辨（50 fs）上對被測物質的同時表征。

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