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    聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統-ZEM-d

    價格:面議
    品牌:ADVANCE RIKO 產地:日本 型號:ZEM-d 樣本:點我免費下載樣本
    AI問答
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    詳細介紹

    聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統-ZEM-d


    日本ADVANCE RIKO公司塞貝克系數與電阻測量系統ZEM系列在全球銷售量超過300臺,廣獲全球科研及工業用戶的贊譽,成為熱電材料領域應用廣泛的測試設備。2019年,在此前的成功基礎上,ADVANCE RIKO公司推出了專門用于評價聚合物厚度方向上熱電性能的全新設備ZEM-d。

    與之前ZEM系列產品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型號ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數和電阻率,可以測量的樣品薄為10μm。此外,ZEM-d與采用激光閃光法測量薄膜的熱擴散率/導熱系數測量方向一致,其測量結果可廣泛應用于薄膜熱電材料的性能評價。


    ZEM-d測量原理


    現存測試方法

    ZEM-d(厚度方向測量)


    電阻率測量原理

    塞貝克系數測量原理

    ZEM-d技術參數

    測量參數        塞貝克系數,電阻率

    溫度范圍        高200℃(樣品表面)

    樣品尺寸        截面:Φ20mm(Max),長度:0.01-20mm

    測量氛圍        空氣或惰性氣體


    軟件界面






    測試數據

    銅合金的塞貝克系數測量結果


    聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統-ZEM-d由QUANTUM量子科學儀器貿易(北京)有限公司 為您提供,如您想了解更多關于聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統-ZEM-d報價、參數等信息 ,歡迎來電或留言咨詢。

    注:該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關用途。

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