賽默飛iCAP? 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀iCAP 7200可用于測定金屬和合金，適用于測定金屬和合金中的雜質元素項目。并且參考多項行業標準iCAP TQ ICP-MS 和 Qtegra ISDS 。可應用于其他化工行業領域。

材料的特性對于其在現代工業中的成功應用至關重要。特殊的機械或化學性質通常取決于材料中是否含有某些元素及其含量。由于大部分工程材料來自于冶金產
品，因此掌握這些純金屬或合金中微量元素的濃度至關重要。例如用于航空航天工業的鎳合金，因其杰出的耐高溫和低蠕變的獨特性能，這些性能使得鎳合金成
為制造渦輪葉片的理想材料。然而，控制鎳合金中的雜質元素（例如硒）是至關重要的，因為這些雜質可能會降低葉片的強度，從而導致葉片被壓裂，最終完全
失效。
另一種重要的金屬是鋯，常被用于高溫或高腐蝕性的環境中。由于其中子俘獲的橫截面較低，鋯特別適用于制造核燃料棒的管狀包殼。核級鋯可以混合少量其它
元素，例如錫、鈮、鉻或鎳，以提高其機械性能和耐腐蝕性。但必須避免鎘的存在，因鎘具有吸收中子的特性，即使在痕量水平下，也將降低核燃料棒管狀包殼的預
期性能。
如上所述，為了形成和保持材料的特殊性質，需要嚴格控制金屬中的雜質元素。除了一些可以直接對固體材料進行檢測的技術，如激光燒蝕（LA）ICP-MS 或輝
光放電質譜（GD-MS），將金屬或合金溶解后測定也是分析雜質元素的一種可行的方法。然而，由于金屬是高基體的樣品（通常高達 1,000 ppm），因此在有光
譜干擾的情況下，檢測痕量雜質元素是具有挑戰性的。

Thermo Scientific? iCAP? 7200 ICP-OES 是一種經濟劃算的入門級儀器，可為預算有限的實驗室提供完美解決方案，從而有助于滿足低樣品數量的處理要求。iCAP 7200 ICP-OES 能分析液體和固體樣品內的痕量元素，可提供異乎尋常的靈敏度和準確度。該光譜儀內裝 Thermo Scientific? Qtegra? Intelligent Scientific Data Solution? (ISDS) 軟件，從而可快速進行設置和操作。

電感耦合等離子體-光學發射光譜法 (ICP-OES) 是對液體和固體樣品中的痕量元素進行分析和定量的公認強大技術。

iCAP 7200 ICP-OES 具有以下特點和優勢：

取樣系統：

• 分析就緒型樣品導入參數不需對泵速、等離子體 RF 功率和氣體流速進行優化。

• 一個 3 通道、12 轉子的蠕動泵，帶有獨特的排液監測傳感器，提供順暢、低噪音的信號和安全的操作。

• 插入式炬管座和接頭方便安裝/拆卸。

• 組合式進樣系統易于重新配置和維護。

• 增強基質耐受 (EMT) 炬管設計改善了高基質樣品的操作。

• 光學排液監測傳感器可監測來自霧化室的排液情況，在發現不正常排液的情況下可自動熄滅等離子體炬焰。

• 適用于一系列自動進樣器，從而可在無人照看的條件下自動分析。

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注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途