賽默飛ICP-AESiCAP? 7400 ICP-OES 等離子體光譜儀 適用于測定金屬和合金中的雜質元素

賽默飛ICP-AESiCAP 7400可用于測定金屬和合金，適用于測定金屬和合金中的雜質元素項目。并且參考多項行業標準iCAP TQ ICP-MS 和 Qtegra ISDS 。可應用于其他化工行業領域。

材料的特性對于其在現代工業中的成功應用至關重要。特殊的機械或化學性質通常取決于材料中是否含有某些元素及其含量。由于大部分工程材料來自于冶金產
品，因此掌握這些純金屬或合金中微量元素的濃度至關重要。例如用于航空航天工業的鎳合金，因其杰出的耐高溫和低蠕變的獨特性能，這些性能使得鎳合金成
為制造渦輪葉片的理想材料。然而，控制鎳合金中的雜質元素（例如硒）是至關重要的，因為這些雜質可能會降低葉片的強度，從而導致葉片被壓裂，最終完全
失效。
另一種重要的金屬是鋯，常被用于高溫或高腐蝕性的環境中。由于其中子俘獲的橫截面較低，鋯特別適用于制造核燃料棒的管狀包殼。核級鋯可以混合少量其它
元素，例如錫、鈮、鉻或鎳，以提高其機械性能和耐腐蝕性。但必須避免鎘的存在，因鎘具有吸收中子的特性，即使在痕量水平下，也將降低核燃料棒管狀包殼的預
期性能。
如上所述，為了形成和保持材料的特殊性質，需要嚴格控制金屬中的雜質元素。除了一些可以直接對固體材料進行檢測的技術，如激光燒蝕（LA）ICP-MS 或輝
光放電質譜（GD-MS），將金屬或合金溶解后測定也是分析雜質元素的一種可行的方法。然而，由于金屬是高基體的樣品（通常高達 1,000 ppm），因此在有光
譜干擾的情況下，檢測痕量雜質元素是具有挑戰性的。

取樣系統：

• 適用于中等樣品通量。

• 自動進樣器附件可在無人照看的條件下檢測 180-720 份液體樣品。

• 儀器快速進樣模式讓您能夠分析更大的樣品負荷。

• 智能分組的波長提高了數據采集速度，并增加了樣品通量。

• 集成的氫化物發生系統附件可提供針對氫化物形成元素的亞 ppb 檢測。

• 可選的樣品處理套件適用于有機/揮發溶劑、氫氟酸和高固體解決方案。

通用性：

• 可處理眾多行業的多種應用。

• 支持 QA/QC 和合同實驗室工作流程。

光學系統：

• 高效的光傳輸，優異的分辨率、靈敏度和檢測能力。

• 波長選擇范圍為 166–847 nm，測量信噪比zei佳。

• 專用的垂直觀察等離子體或雙向觀察等離子體的配置，適合感興趣的樣品類型和元素。

• 使用氣體質量流量控制器控制霧化器氣流量，改善長期信號穩定性。

• Element Finder 插件可自動進行方法開發，從而選擇zei適合樣品的波長。

• 可對一系列有挑戰性的基質和樣品體積進行定制，從而拓展了實驗室的工作范圍。

軟件：

• 集成的 Qtegra Intelligent Scientific Data Solution (ISDS) 軟件可zei大限度縮短任務時間并盡可能提高協議自動化水平。

緊湊式 Thermo Scientific? iCAP? 7400 ICP-OES 符合眾多痕量元素應用的法規要求，可提供卓越的性能和生產力。這種功能強大的光譜儀擁有廣泛的分析功能，可實現全波長覆蓋，同時又能保持高靈敏度。它也容易使用，所需用戶設置和維護極少，并且每個樣品的檢測成本低。iCAP 7400 ICP-OES 內裝 Thermo Scientific? Qtegra? Intelligent Scientific Data Solution? (ISDS) 軟件，從而可快速進行設置和操作。

電感耦合等離子體-光學發射光譜法 (ICP-OES) 是對液體和固體樣品中的痕量元素進行分析和定量的公認強大技術。

耐用且可靠的 iCAP 7400 ICP-OES 是一種功能強大的元素分析儀，占用空間小。該光譜儀的其他特點和優勢如下：

賽默飛ICP-AESiCAP? 7400 ICP-OES 等離子體光譜儀 適用于測定金屬和合金中的雜質元素信息由賽默飛色譜與質譜分析為您提供，如您想了解更多關于賽默飛ICP-AESiCAP? 7400 ICP-OES 等離子體光譜儀 適用于測定金屬和合金中的雜質元素報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途