TX 2000 全反射X熒光光譜儀

儀器簡介

TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發生，同時減小了載體的背景和噪聲，亦可減少樣品使用量。

TX2000 將全反射和傳統的能量色散集成在同一臺儀器上，創新光學編碼器的步進電機，保證精確角度測量，軟件控制Mo/W靶可自由切換，采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。

應用范圍

TX2000 可檢測從鈉Na到钚Pu所有元素含量，可進行痕量或超痕量元素分析（ppt或pg），廣泛的應用在環境分析（水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物），制藥分析（生物體液和組織樣品中的有害元素），法醫學（微小證據分析），化學純度分析（酸、堿、鹽、溶劑、水、超純試劑），油品分析（原油、輕質油、燃料油），染料分析（墨水、油漆、粉末），半導體材料分析（揮發相分解），核材料工業（放射性元素分析）。

主要特點
■ 單內標校正，有效簡化了定量分析，無基體影響；
■ 對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析；
■ 多元素實時分析，可進行痕量和超痕量分析；
■ 不受樣品的類型和不同應用需求影響；
■ 獨特的液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量小；
■ 優良的檢出限水平，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚；
■ 出色的動態線性范圍；
■ 無需任何化學前處理，無記憶效應；
■ 非破壞性分析，運行成本低廉。

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注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途