產地類別:進口 | 供應商性質:生產商 | 電子槍類型:冷場發射 |
是中心實驗室的得力助手,在科研和工業領域中具有高通用性。
蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM 360,它是中心實驗室的得力助手,在科研和工業領域中具有高通用性。
(1) 靈活的樣品適用性
場發射掃描電鏡GeminiSEM 360是中心實驗室的理想選擇,在科研和工業中具有非常高的通用性。
產品搭載Gemini 1鏡筒,在低電壓下依然具有高分辨成像能力,讓您輕松獲取樣品極表面高分辨信息。
通過鏡筒內二次電子和背散射電子同時成像,即使對于電子束敏感樣品也可以獲取高分辨的表面形貌和成分襯度。
在低真空下(NanoVP)拍攝不導電樣品時,依然可以通過鏡筒內Inlens探頭獲得優異襯度:無荷電高分辨。
兩個平行設計的鏡筒內探測器為樣品表征提供更全面的信息
(2)出色的用戶體驗
場發射掃描電鏡GeminiSEM 360可提供出色的用戶體驗:該產品具有廣闊的視野范圍和大體積腔室,可以輕松檢測大尺寸樣品。
利用蔡司ZEN Connect軟件可在多種顯微鏡(例如光鏡、電鏡、X射線顯微鏡)之間進行無縫導航。
使用蔡司特有的自動對焦和智能探測器等自動功能輕松采集清晰、銳利的圖像。
具有對稱的EDS端口和共面的EDS / EBSD幾何設計,可高效執行成像和分析工作流程。
可有效延長系統正常運行時間,并讓您從容地進行計劃內維護。
多功能的樣品腔室滿足您不同應用需求的個性化配置。
(3)優異的功能擴展性
可升級的系統可有效減少重復投資。因此,我們將場發射掃描電鏡GeminiSEM 360融入蔡司ZEN core軟件生態系統中。
ZEN軟件生態系統包括:ZEN Connect可關聯多儀器、多尺度數據;ZEN Intellesis是基于AI的自動分析工具; ZEN數據存儲功能可以讓您在一個數據中心節點上管理不同儀器的實驗數據。
可訪問作為APEER社區成員的其他用戶創建的工作流和腳本,幫助您解決難題。
.明確的升級路徑幫助您的設備更好地升級最新的功能。
ZEN Connect將多種表征手段的數據進行整合,獲取樣品全面信息。
場發射掃描電鏡可實現高分辨成像離不開其性能優異的電子光學鏡筒。Gemini可在任意樣品上展現出色的成像分辨力,尤其是在低加速電壓下仍可輕松實現高分辨成像。
Gemini鏡筒具有以下三個主要特點:
Gemini物鏡的設計結合了靜電透鏡和磁透鏡,在提高其電子光學性能的同時將它們對樣品的影響降至更低。即使對極具挑戰的樣品(例如磁性材料)也能進行高品質成像。
Gemini beam booster技術具有鏡筒內的電子加減速功能,可確保獲得小束斑和高信噪比;
Gemini 鏡筒內探測器的設計可實現信號的高效采集,實現二次電子(SE)和背散射電子(BSE)同時成像,有效縮短了成像時間。
為您的應用帶來以下便利:
經校準后的SEM具有長期的穩定性,您在使用時只需要簡易地設定各項系統參數,如束流和加速電壓等。
無漏磁的透鏡設計,可實現無畸變的高分辨成像。
鏡筒內二次電子探測器具有高效的SE 1信號采集效率,給您呈現來自樣品極表面的真實形貌圖像;
鏡筒內背散射探測器設計理念使您在極低電壓下也可獲得真實的成分襯度圖像。
要獲取樣品更加完整的信息,掃描電子顯微鏡必須在成像和分析方面都具備優異的性能,同時能給用戶簡單易用的操作體驗。
Gemini 2鏡筒可滿足您的以下需求:
場發射掃描電鏡GeminiSEM 460配有雙聚光鏡的Gemini 2鏡筒
在確保獲得出色的小束斑的同時,束流連續可調
可在小束流的高分辨成像與大束流的分析模式之間進行無縫切換
調整拍攝參數后無需對電子束進行重新對中,節省您的時間和精力
操作靈活易用,大束流密度下的高分辨成像、小束流分析、大束流分析等各類不同的工作模式,一切由您而定
物鏡無漏磁設計可以讓您獲得無畸變的EBSD花樣,還可以在大視野范圍內進行高分辨成像
傾斜樣品時不影響電子光學性能。即使磁性樣品也能輕松成像
選擇適合樣品的消荷電模式:局部電荷中和,腔室內可變氣壓或NanoVP
低電壓,高分辨是場發射掃描電鏡(FE-SEM)進化的方向。
(1) 這對于以下樣品非常重要:
電子束敏感樣品
不導電材料
獲得真實的樣品極表面信息,而不會有來自樣品深層中的背景信號
Gemini 3光路設計針對低電壓和極低電壓下的分辨力以及襯度增強進行了優化,可確保在從1 kV到30 kV的所有工作條件下獲得優異分辨力。Gemini 3鏡筒擁有兩個可協同工作的先進組件:Nano-twin透鏡和新型電子光學引擎Smart Autopilot。其他技術特征包括高分辨力模式和可選的樣品臺減速模式。
(2) Nano-twin透鏡:
低電壓和超低電壓下的亞納米分辨力成像,具有出色的信號檢測效率
低電壓下的像差是傳統Gemini物鏡的三分之一——施加在樣品上的磁場也是傳統Gemini物鏡的三分之一,約為1 mT
優化的幾何設計以及靜電和磁場分布
低電壓成像條件下增強的鏡筒內探測器的信號
這些特點為1 kV以下的亞納米成像提供了可能,而無需將樣品浸入電磁場中。
(3) Smart Autopilot
Smart Autopilot與Nano-twin透鏡結合使用,可為您帶來以下優勢:
通過聚光鏡優化所有工作條件下的電子束會聚角,可在任意電壓下獲得優異分辨率
通過新的大視野概覽模式實現樣品導航與高分辨成像之間的無縫過渡
GeminiSEM系列:高分辨,不挑樣
長久以來,蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以滿足您的需求。創新的電子光學系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質量、易用性和靈活性。
蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實現1 kV以下的亞納米級分辨力。以下內容可以使您進一步了解Gemini電子光學系統的三大獨特設計,探索蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM的應用潛能。
不導電礦物蒙脫石斷裂表面的納米級特征
更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM 360可以實現各種樣品的高分辨成像、分析和各種應用需求的拓展。
更強大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM 460可應對更加復雜的分析工作。連續可調的大束流使您可以在成像和分析條件之間無縫切換。
更高端的表征體驗 - 蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學引擎,讓它在各種工作條件下均可發揮該系列最出色的分辨率特性。
[ 產品簡介 ]
蔡司場發射掃描電子顯微鏡Gemini系列,具有出色的探測效率,能夠輕松實現亞納米分辨成像,適用于多種材料的高分辨成像與分析。其優異的低電壓成像能力與表面細節靈敏度,讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性,可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像。為生命科學研究實驗室、工業實驗室、成像測試平臺、高校或研究機構提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微技術與方案。
[ 產品特點 ]
出色的檢測效率
優異的低電壓分辨率和表面靈敏度
靈活的探測手段獲取高分辨的圖像
獨特的無漏磁鏡筒,輕松應對磁性材料表征
豐富的擴展性
[ 應用領域 ]
材料科學,如納米材料表征
工業應用,如失效分析,性能分析
生命科學,如大體積細胞高通量成像
電池領域,如老化分析、電池材料表征
電子半導體領域,如半導體器件失效研究與分析
刑偵、法醫學
考古學、文物保護與修復
InLens SE探測器磁性FeMn納米顆粒成像
InLens SE 探測器和EsB 探測器同時對包埋在沸石中的銀納米顆粒成像
InLens SE探測器NCM622正極顆粒成像
aBSD探測器FinFET結構成像
NanovP 模式,細節兼顧景深。樣品無需噴金處理。
小鼠大腦成像
蔡司場發射掃描電子顯微鏡 GeminiSEM 360由卡爾蔡司(上海)管理有限公司為您提供,如您想了解更多關于蔡司場發射掃描電子顯微鏡 GeminiSEM 360 報價、型號、參數等信息,歡迎來電或留言咨詢。
注:該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關用途。
采購單位 | 行業 | 采購時間 |
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東南大學 | 高校 | 2024-10-10 |
中國醫學科學院北京協和醫院 | 醫院 | 2024-11-27 |
北京大學 | 高校 | 2024-10-18 |
寧波大學 | 高校 | 2024-11-23 |
杭州電子科技大學 | 高校 | 2024-11-21 |
武漢大學 | 高校 | 2024-07-30 |
江漢大學 | 高校 | 2024-11-23 |
武漢大學 | 大學 | 2023-02-19 |