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誠信認證:
工商注冊信息已核實!參考報價: | $2000000 USD(美元) | 型號: | JEM-F200 |
品牌: | 日本電子 | 產地: | 日本 |
關注度: | 6177 | 信息完整度: | ![]() |
樣本: | 典型用戶: | 暫無 | |
儀器種類 | 場發射 | 價格范圍 | $2500萬-3000萬 |
分辨率 | 0.1nm | 加速電壓 | 最高200kV |
電子槍 | 冷場發射 | 放大倍數 | 50X-2,000,000X |
樣品臺 | 全自動 | 樣品移動范圍 | XYZ |
最小束斑尺寸 | 0.1nm | 成像透鏡系統 | 高級掃描系統 |
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2016年新年伊始,日本電子株式會社(JEOL)即全球同步推出了新款場發射透射電鏡JEM-F200。
為了全面整合近年發展起來的透射電鏡上的各種功能,JEM-F200進行了全新設計,在保障各種功能達到極限的同時,追求操作的簡單化和自動化,為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗。具體特點表現為:
1)精煉的全新設計:在提高機械和電氣穩定性的同時,憑借對透射電鏡的豐富經驗,對電鏡整體進行了精煉全新設計,力求為用戶提供全新感受;
2) 四級聚光鏡設計:為了zei大程度發揮出STEM功能,JEM-F200進行了全新概念的四級聚光鏡設計,亮度和匯聚角可以分別控制;
3)高端掃描系統:在照明系統掃描功能之上又增加了成像系統的掃描功能(選購件)可以獲得大范圍的STEM-EELS;
4)皮米樣品臺控制:標配的壓電陶瓷控制樣品臺,可以在原子尺度上獲得精準的移動;
5)全自動裝樣測角臺(SPECPORTER):樣品桿的插入拔出只需電鈕即可全自動實現,彰顯其便利性及安全性;
6)成熟的冷場發射技術:將JEOL應用在球差校正技術上的高端冷場發射技術移植到普通的場發射透射上,可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學結合狀態分析;
7)雙超級能譜設計:可安裝雙超級能譜,將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度;
8)節能減排:啟用省電模式耗電量降低80%。
JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡
以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
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以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
外觀設計精煉
精煉的外型,全新的視覺感受。
為分析型電鏡全新設計的GUI,使操作更加直觀方便。
JEOL長年積累的豐富經驗在設計上得到了充分的體現,與舊機型相比,電鏡的機械性和電氣穩定性都得到了很大的提高。
四級聚光鏡系統
現在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術。 該設備采用新型四級聚光鏡照射光學系統-“Quad-Lens condenser system”,通過分別控制電子束強度和匯聚角,能滿足各種研究的需求。
高端掃描系統
JEM-F200可以實現大視野的STEM-EELS分析,該設備在常規的照明系統的電子束掃描功能之上,增加了新的掃描系統-“Advanced Scan System” 即成像系統的電子束掃描功能(選配)。
皮米樣品臺驅動
JEM-F200 采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive(不用壓電驅動),能在寬動態范圍移動視野-從樣品的整個柵網視野移動到原子級圖像視野移動都能進行。
SpecPorter(自動插入和拔出樣品桿的裝置)
插入和拔出樣品桿,對電鏡初學者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter,即使新手也能輕松掌握,將樣品桿安裝在指定的位置上,只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。
改進的冷場發射電子槍
JEM-F200能安裝高穩定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發射電子槍(選配),該槍的利用可以進行EELS化學結合狀態分析,高亮度的電子束縮短了分析時間,并且還降低了來自光源的色差,實現了高分辨率的觀察。
雙能譜(SDD)
JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器(SDD)(選配件)。 憑借更高的靈敏度,EDS分析速度更快,對樣品的損傷更小。
環保節能
JEM-F200是第一個標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統能將能源消耗降低到正常模式時的1/5,可以在裝置不運行時,以zei小的能耗保持著電鏡的zei佳條件。該設備具有排程功能,能在指定的時間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態。
產品規格
超高分辨極靴 | 高分辨極靴 | |
分辨率 | ||
TEM點分辨率 | 0.19 nm | 0.23 nm |
STEM-HAADF 像 | 0.14 nm @冷場槍 | 0.16 nm @冷場槍 |
0.16 nm @熱場槍 | 0.19 nm @熱場槍 | |
加速電壓 | 200 , 80 kV | 200 , 80 kV |
主要選配件 | 能譜儀(EDS)、電子能量損失譜儀(EELS)、CCD相機、TEM/STEM斷層掃描系統 |
JEM-F200新概念冷場發射透射電鏡信息由日本電子株式會社(JEOL)為您提供,如您想了解更多關于JEM-F200新概念冷場發射透射電鏡報價、型號、參數等信息,歡迎來電或留言咨詢。
注:該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關用途
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